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全自動(dòng)汽車(chē)清潔度分析系統(tǒng)

參考價(jià)面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱(chēng)復(fù)納科學(xué)儀器(上海)有限公司
  • 品       牌Phenom 飛納電鏡
  • 型       號(hào)ParticleX TC
  • 所  在  地上海市
  • 廠商性質(zhì)其他
  • 更新時(shí)間2024/9/20 8:32:37
  • 訪問(wèn)次數(shù)3729
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復(fù)納科學(xué)儀器(上海)有限公司,2012 年創(chuàng)立于上海,為高校,企業(yè)和研究所提供臺(tái)式掃描電子顯微鏡,及與臺(tái)式掃描電鏡相關(guān)的技術(shù)支持和測(cè)試服務(wù)。復(fù)納科學(xué)儀器(上海)有限公司成立以來(lái),一直專(zhuān)注顯微技術(shù),致力于實(shí)現(xiàn)掃描電鏡平民化。飛納電鏡——復(fù)納科學(xué)儀器(上海)有限公司為用戶提供從掃描電鏡基礎(chǔ)理論到 Level 5 應(yīng)用工程師的進(jìn)階培訓(xùn),在上海、北京、廣州、成都設(shè)立了測(cè)試中心和售后服務(wù)中心,目前飛納電鏡在中國(guó)已經(jīng)擁有超過(guò) 2000 名用戶。


2017 年起,復(fù)納與荷蘭 Sioux 集團(tuán)(ASML 光刻機(jī)研發(fā)供應(yīng)商)合作開(kāi)發(fā)基于分析儀器的數(shù)字化應(yīng)用解決方案;2018 年,復(fù)納引入并組建以 VSParticle 納米粒子發(fā)生器、ForgeNano 原子層沉積系統(tǒng)(美國(guó))為主要產(chǎn)品的納米部門(mén)。復(fù)納又陸續(xù)引進(jìn)海外優(yōu)質(zhì)高科技設(shè)備:Technoorg Linda 離子研磨儀、DENSsolutions 原位透射樣品桿、NEOSCAN 臺(tái)式顯微 CT 到中國(guó),旨在提高分析結(jié)果準(zhǔn)確性,提升儀器使用效率,節(jié)省人力成本。





掃描電鏡,電子顯微鏡,細(xì)胞成像分析
產(chǎn)地 進(jìn)口 產(chǎn)品新舊 全新
放大倍率 200000kv 分辨率 8nm
加速電壓 4.8-20.5kv
飛納Phenom ParticleX全自動(dòng)汽車(chē)清潔度分析系統(tǒng)以臺(tái)式掃描電鏡和能譜儀為硬件基礎(chǔ),可以全自動(dòng)對(duì)顆?;螂s質(zhì)進(jìn)行快速識(shí)別、分析和分類(lèi)統(tǒng)計(jì),為客戶的研發(fā)以及生產(chǎn)提供快速、準(zhǔn)確和可靠的定量數(shù)據(jù)支持。
全自動(dòng)汽車(chē)清潔度分析系統(tǒng) 產(chǎn)品信息

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

汽車(chē)行業(yè)越來(lái)越關(guān)注 SiO2、Al2O3 等硬質(zhì)顆粒的影響,傳統(tǒng)的清潔度分析方法(重量法和光鏡法)只能提供清潔部件上大顆?;覊m和碎片的總體重量或形狀信息,而不能全面分辨顆粒的污染源。ParticleX TC 汽車(chē)清潔度分析系統(tǒng)取代傳統(tǒng)顆粒物清潔度檢測(cè)方法,允許工程師看見(jiàn)微米尺寸的顆粒并確定其化學(xué)成分,從而判斷出污染源。

飛納Phenom ParticleX全自動(dòng)汽車(chē)清潔度分析系統(tǒng)以臺(tái)式掃描電鏡和能譜儀為硬件基礎(chǔ),可以全自動(dòng)對(duì)顆?;螂s質(zhì)進(jìn)行快速識(shí)別、分析和分類(lèi)統(tǒng)計(jì),為客戶的研發(fā)以及生產(chǎn)提供快速、準(zhǔn)確和可靠的定量數(shù)據(jù)支持。該過(guò)程符合ISO 16232 和 VDA 19 要求。

傳統(tǒng)的清潔度分析方法(重量法和光鏡法)只能提供清潔部件上大顆?;覊m和碎片的總體重量或形狀信息,而不能全面分辨顆粒的污染源。


借助 Phenom ParticleX TC 汽車(chē)清潔度分析系統(tǒng),只需一鍵,即可自動(dòng)分析 4 片直徑 47mm 的濾膜,并且自動(dòng)生成報(bào)告,更有效率地監(jiān)控過(guò)程清潔度。

 


 

ParticleX TC 汽車(chē)清潔度分析系統(tǒng)功能

· 以臺(tái)式掃描電鏡和能譜儀為硬件基礎(chǔ)

· 全自動(dòng)顆粒識(shí)別、分析和分類(lèi)統(tǒng)計(jì)

· 無(wú)需人員值守,可連續(xù)運(yùn)行

· 一鍵生成報(bào)告

· 輕松對(duì)重點(diǎn)顆粒重新查看和分析

ParticleX TC全自動(dòng)汽車(chē)清潔度分析系統(tǒng)使用特點(diǎn)

l 顆粒粒度分布——全面的顆粒粒度范圍

l 顆粒形貌分析——多種測(cè)量方法可供選擇

l 雜質(zhì)顆粒檢測(cè)——可檢測(cè)出數(shù)千顆粒中夾雜的微量雜質(zhì)顆粒

l 高分辨率成像——8nm分辨率

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