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FEI Quanta系列掃描電子顯微鏡

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公司名稱(chēng)上海禹重實(shí)業(yè)有限公司
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型號(hào)
所在地
廠商性質(zhì)其他
更新時(shí)間2021/8/1 17:11:01
訪(fǎng)問(wèn)次數(shù)972

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公司介紹主營(yíng)產(chǎn)品

上海禹重實(shí)業(yè)有限公司（以下簡(jiǎn)稱(chēng)禹重科技®）是一家以服務(wù)introduce中國(guó)市場(chǎng)為主的進(jìn)口儀器貿(mào)易和檢測(cè)技術(shù)服務(wù)公司，下設(shè)三個(gè)事業(yè)部和一個(gè)中心，即分析儀器事業(yè)部、實(shí)驗(yàn)室服務(wù)事業(yè)部、項(xiàng)目開(kāi)發(fā)部、以及中禹聯(lián)重檢測(cè)技術(shù)中心。目前除上?？偛客?，我們已建立北京、沈陽(yáng)、太原、長(zhǎng)沙、廣州、青島和成都等分支機(jī)構(gòu)。為客戶(hù)提供更專(zhuān)業(yè)、更安全、更便捷的產(chǎn)品和服務(wù)是我們禹重科技®的目標(biāo)。

禹重科技®作為T(mén)hermo Science（賽默飛）、DIONEX（戴安）、Gilson（吉爾森）和Tekmar（泰克瑪）等品牌的核心代理商，依托（香港）亞測(cè)科技有限公司（Amicrotest Technology Limited），我們將分析測(cè)試前沿技術(shù)和產(chǎn)品帶給國(guó)內(nèi)客戶(hù)，為眾多企業(yè)和高校、科研院所以及政府機(jī)構(gòu)的產(chǎn)品研發(fā)、質(zhì)量控制、合規(guī)運(yùn)營(yíng)，提供成分分析儀器、表面分析儀器、自動(dòng)化樣品前處理儀器和物理力學(xué)儀器等綜合性?xún)x器解決方案，同時(shí)提供儀器配套設(shè)備和標(biāo)準(zhǔn)樣品耗材的銷(xiāo)售，材料測(cè)試等實(shí)驗(yàn)室服務(wù)。

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成分分析儀，表面分析儀，光譜儀

產(chǎn)品簡(jiǎn)介在線(xiàn)詢(xún)價(jià)

FEI Quanta系列掃描電子顯微鏡包括6個(gè)變量的壓力和環(huán)境掃描電子顯微鏡（ESEM）和兩個(gè)DualBeam系統(tǒng)，所有這些都可以容納多個(gè)樣品和工業(yè)過(guò)程控制實(shí)驗(yàn)室，材料科學(xué)實(shí)驗(yàn)室和生命科學(xué)實(shí)驗(yàn)室的成像要求

FEI Quanta系列掃描電子顯微鏡產(chǎn)品信息

FEI Quanta系列掃描電子顯微鏡包括6個(gè)變量的壓力和環(huán)境掃描電子顯微鏡（ESEM™）和兩個(gè)DualBeam™系統(tǒng)，所有這些都可以容納多個(gè)樣品和工業(yè)過(guò)程控制實(shí)驗(yàn)室，材料科學(xué)實(shí)驗(yàn)室和生命科學(xué)實(shí)驗(yàn)室的成像要求。Quanta系列的掃描電子顯微鏡，是一款多功能，高性能儀器與任何SEM系統(tǒng)的樣本，以適應(yīng)范圍的三種模式（高真空，低真空和ESEM）。如能譜儀，波長(zhǎng)色散X射線(xiàn)光譜儀和電子背散射衍射分析系統(tǒng)，可配備所有的廣泛電腦掃描電鏡系統(tǒng)。
FEI Quanta系列掃描電子顯微鏡可用于研究各種材料并表征材料的結(jié)構(gòu)與成分，同時(shí)提供的靈活性，提高了性能與通用性，可應(yīng)對(duì)當(dāng)今廣泛研究領(lǐng)域的各種挑戰(zhàn)，滿(mǎn)足多方需要。觀察樣品，獲取所有相關(guān)數(shù)據(jù)：將顯微鏡附件與表面形貌和成分圖像結(jié)合使用，確定材料特性及其化學(xué)元素組成。
導(dǎo)航功能包括自動(dòng) Montage 導(dǎo)航、樣品臺(tái)移動(dòng)雙擊控制、拖放變焦和其他有用的標(biāo)準(zhǔn)結(jié)合功能。SmartSCAN™ 技術(shù)采用智能掃描策略，可減少噪的數(shù)據(jù)。其他新功能包括可提高低加速電壓 (kV) 性能的射束減速功能、Nav-Cam™ 彩色圖像導(dǎo)航和使 Quanta FEG 系列具備更大靈活性的新型伸縮式檢測(cè)器等。
采用環(huán)境掃描顯微 (ESEM) 技術(shù)，打造wei一的高分辨率 FEG-SEM 產(chǎn)品
可表征導(dǎo)電和非導(dǎo)電樣品，且在各操作模式下均可能實(shí)現(xiàn)二次電子 (SE) 和背散射電子(BSE) 成像
限度減少樣品制備量；低真空和環(huán)境掃描 (ESEM) 功能可實(shí)現(xiàn)無(wú)電荷成像，并能實(shí)現(xiàn)對(duì)絕緣樣品和含水樣品的分析
在 Quanta 的“經(jīng)由透鏡抽氣”zhuan利技術(shù)產(chǎn)生的高真空和低真空環(huán)境中對(duì)導(dǎo)電和非導(dǎo)電樣品進(jìn)行能譜 (EDS) 和電子背散射 (EBSD) 分析，以提高分析能力。穩(wěn)定的高射束電流（達(dá)到 200 nA）可實(shí)現(xiàn)快速、準(zhǔn)確的分析
在原位樣品臺(tái)上可對(duì)各種保持自然狀態(tài)的樣品進(jìn)行動(dòng)態(tài)原位分析，分析溫度高于或低于環(huán)境溫度，變化區(qū)間從 165 °C 到1500
使用可選的射束減速模式能進(jìn)行表面成像，以從導(dǎo)電樣品中獲取表面和成分信息
易用，直觀的軟件讓新手也能高效操作