詳細(xì)介紹
可兼容DC測(cè)試、射頻、高頻、微波測(cè)試
直流到高頻
高低溫探針臺(tái)參數(shù):
外形尺寸 ( W / D / H ) : 600mm X 500mm X 600mm
重量 : 80kg
卡盤尺寸:6" 加熱卡盤(4寸可選)
溫度范圍: -30 degreeC ~ 200 degreeC
溫度說(shuō)明:可根據(jù)用戶需求選擇300degreeC加熱卡盤或低溫溫度范圍選擇,低溫可達(dá)-100 degreeC
Platen板可移動(dòng)范圍 : 500mm
顯微鏡XY調(diào)節(jié) : 25mm X 25mm
卡盤XY行程調(diào)節(jié) : 150mm X 150mm
配置可選項(xiàng):
* 體式顯微鏡/高倍率超長(zhǎng)工作距離視頻顯微鏡
* 真空吸附加熱卡盤(溫度:200℃/300℃或其它)
* 卡盤尺寸可選:4"/6"
* 可選低溫卡盤
* 各類DC探針、高頻探針、主動(dòng)式探針、電纜線等…
* CCD或C-MOS視頻成像裝置
* 各類探針夾具
* *真空泵
* 屏蔽箱
* 防振桌
* 適配器
* 轉(zhuǎn)接頭
* 電學(xué)測(cè)試設(shè)備
* 探針臺(tái)其它外圍組件