廣東惠州市探測(cè)鑄件內(nèi)部裂紋探傷檢測(cè)圖片

射線探傷是檢查內(nèi)部質(zhì)量，優(yōu)點(diǎn)是形象直觀，但是無(wú)法判定缺陷深度。磁粉探傷是檢查表面及近表面的缺陷。滲透探傷室檢查表面開(kāi)口狀缺陷。無(wú)損結(jié)構(gòu)分析目的：通過(guò)不破壞產(chǎn)品或零部件結(jié)構(gòu)的方式，觀察其內(nèi)部結(jié)構(gòu)、判斷可能的失效模式，大多數(shù)樣品測(cè)試后還可以繼續(xù)使用。常用的無(wú)損檢測(cè)手段：項(xiàng)目名稱用途X射線檢查金屬材料及零部件、塑膠材料及零部件、電子元器件、電子組件、L