射線探傷是檢查內(nèi)部質(zhì)量，優(yōu)點(diǎn)是形象直觀，但是無法判定缺陷深度。
磁粉探傷是檢查表面及近表面的缺陷。
滲透探傷室檢查表面開口狀缺陷。
無損結(jié)構(gòu)分析
目的：
通過不破壞產(chǎn)品或零部件結(jié)構(gòu)的方式，觀察其內(nèi)部結(jié)構(gòu)、判斷可能的失效模式，大多數(shù)樣品測試后還可以繼續(xù)使用。
常用的無損檢測手段：
項(xiàng)目名稱
用途
X射線檢查
金屬材料及零部件、塑膠材料及零部件、電子元器件、電子組件、LED元件等內(nèi)部的裂紋、異物的缺陷檢測
超聲波掃描檢查
電子元器件、LED、金屬基板的分層、裂紋等缺陷
滲透探傷檢查
焊縫、管材表面裂紋、針孔等缺陷檢查
磁粉探傷檢查
鐵磁性材料表面裂紋、針孔等缺陷檢查
專業(yè)提供：金屬材料的超聲探傷，射線探傷，磁粉探傷
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