型號(hào)：VeriPac D-系列

品牌：PTI

產(chǎn)地：美國(guó)

測(cè)試方法：真空衰減法

關(guān)鍵詞：

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

VeriPac D-系列是應(yīng)用較廣的無(wú)損包裝檢測(cè)系統(tǒng)，它是專(zhuān)為小袋包裝和軟包裝設(shè)計(jì)的。一種定性結(jié)果（通過(guò)/不通過(guò)）以及定量數(shù)據(jù),這取決于泄漏率和泄漏尺寸。為適應(yīng)各種包裝規(guī)格、測(cè)試靈敏度的要求，VeripacD系列可用于多種包裝規(guī)格的密封性測(cè)試，亦可用于測(cè)量測(cè)試腔容積。

VeripacD系列采用的是獲ASTM（美國(guó)試驗(yàn)材料學(xué)會(huì)）批準(zhǔn)的無(wú)損真空衰減法（F2338），這種方法被FDA（美國(guó)食品及藥物管理局）*為包裝完整性測(cè)試*的標(biāo)準(zhǔn)。這種測(cè)試方法被改善并應(yīng)用到Veripac泄漏測(cè)試系統(tǒng)當(dāng)中。

VeriPacD-系列是一款實(shí)用的、取代破環(huán)性測(cè)試的儀器,因?yàn)檫@種儀器消除了結(jié)果的主觀性,減少浪費(fèi)并降低了成本。與破壞性的方法（如“水檢”法）相比，真空衰減的泄漏檢測(cè)技術(shù)已被證明能快速地收回投資。VeriPac D測(cè)試人員能通過(guò)儀器找到很小的漏點(diǎn),而這些漏點(diǎn)會(huì)影響到產(chǎn)品質(zhì)量和貨架期。因?yàn)?span lang="EN-US">VeriPac測(cè)試周期很短,測(cè)試是無(wú)損測(cè)試,因此測(cè)試樣品的數(shù)量和測(cè)試的頻率都可以增加。

執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)

ASTM F2338 - 09 

優(yōu)點(diǎn)

1.   無(wú)損、無(wú)侵入式、無(wú)需樣品制備

2.   精確和可重復(fù)的結(jié)果

3.   在同一測(cè)試周期內(nèi)可測(cè)試多個(gè)包裝

4.   投資回報(bào)快，成本效益

5.   支持可持續(xù)包裝，符合*的倡議

6.   簡(jiǎn)化了檢驗(yàn)和驗(yàn)證程序

測(cè)試技術(shù)

Veripac測(cè)試儀為了操作簡(jiǎn)單，方便測(cè)試，因此連接到一個(gè)特別設(shè)計(jì)的類(lèi)似于抽屜的測(cè)試腔。VeripacD系列的每個(gè)型號(hào)都有特定的測(cè)試精度，并根據(jù)包裝的大小/規(guī)格有兩種不同尺寸的

測(cè)試腔可供選擇。儀器的*之處在于包裝是如何進(jìn)行測(cè)試的。PTI采用符合包裝形狀和大小的軟膜（產(chǎn)品）。多個(gè)包裝可以在同一測(cè)試周期進(jìn)行。軟膜能縮小測(cè)試腔的頂空，使得測(cè)試更加靈敏。單/雙傳感器用來(lái)監(jiān)測(cè)測(cè)試腔的真空水平以及預(yù)定測(cè)試時(shí)間內(nèi)真空的變化。真空變化說(shuō)明存在泄漏或包裝內(nèi)部有漏點(diǎn)。VeripacD系列密封儀在不更換任何零部件，不更改測(cè)試參數(shù)的情況下可測(cè)試不同尺寸的小袋，條狀包裝和小袋包裝。

檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)

l  測(cè)量整個(gè)包裝的密封性

l  測(cè)試精度：5 - 25  μm

技術(shù)參數(shù)

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