X熒光鍍膜檢測(cè)儀采用X射線熒光的工作原理是,X 射線管產(chǎn)生初級(jí)射線照射在受檢物質(zhì)時(shí),會(huì)激發(fā)物質(zhì)放射X-射線螢光輻射,特定的元素有特定的輻射信號(hào),接收器便會(huì)記錄這些能量光譜。不需要先對(duì)樣品進(jìn)行處理便能測(cè)量,樣品可直接放入測(cè)量室進(jìn)行測(cè)量。不需要復(fù)雜、昂貴的儀器來抽真空,便能在正常的環(huán)境下測(cè)量從元素Z=13鋁到Z=92(鈾),固定、漿狀及液體的樣本也可以測(cè)量,即使是極小不規(guī)則形狀的測(cè)量面積也可快速、免接觸的測(cè)量。只需短短數(shù)秒鐘,所有從17號(hào)元素氯到92號(hào)元素鐳的所有元素都能準(zhǔn)確測(cè)定.可測(cè)量:
單一鍍層:Zn, Ni,Cr,Cu,Ag,Au,Sn等。 二元合金層:例如Fe上的SnPb,ZnNi和NiP合金。 三元合金層:例如Ni上的AuCdCu合金。
雙鍍層:例如Au/Ni/Cu,Cr/Ni/Cu,Au/Ag/Ni,Sn/Cu/Brass,等等。
雙鍍層,其中一個(gè)鍍層為合金層:例如Cr/NiCu/Plastic;Fe。
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