FISCHER XUL系列膜厚測厚儀,是結(jié)合了測量鍍層厚度及物料分析雙功能在一整體的設計,采用能量散射X-射線螢光測厚原理,符合標準來進行非破壞及不接觸的測量。除了可以測量鍍層厚度外,還可以計算合金中各種元素的含量。至于需要測量電鍍槽內(nèi)的金離子停含量的濃度也是十分簡單。具備手動的測量臺,可移動的范圍是50MM*50MM,不需要打開測量門便可以移動不同測量,方便操作。測試方向由下向上照射的設計是只需要對準量位置,而不需要調(diào)校焦距便可以進行測量,并且由下向上的照射,操作員只需將測試面朝下,不論大小的樣品可直接放進測量室內(nèi),不用調(diào)距離,只需對準位置,便可立即測量,這不單可以令測量更快速,還可以避免因在調(diào)校測量距離錯誤時影響計算厚度。該系列產(chǎn)品是根據(jù)ASTMB568/ISO3497的規(guī)格進行設計的,WINFTM的控制軟件,已成為多功能及準確度高的樣板極適合對一些較小的樣板進行測量,尤其是對手表、端子、小螺絲、螺絲帽、一些電氣產(chǎn)品中的小五金零件等等。
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