SAKI 2D AOI得益于線性掃描的設(shè)計(jì)理念,實(shí)現(xiàn)了緊湊的機(jī)身設(shè)計(jì),無(wú)論是單軌還是雙軌都以同樣的裝置寛度,實(shí)現(xiàn)了單位面積內(nèi)生產(chǎn)率。的線性掃描設(shè)計(jì)方式,使得裝置在運(yùn)行中沒(méi)有任何振動(dòng),保證了設(shè)備的高精度性,也鑄就了設(shè)備極低的故障率。
其他品牌 AOI 通過(guò)一般的測(cè)試設(shè)備所采用的分段拍攝方式,根據(jù)零部件數(shù),基板尺寸改變檢查工作,如果進(jìn)行更細(xì)微的檢查,則檢查時(shí)間會(huì)大幅度增大。
SAKI 同軸照明無(wú)陰影檢測(cè)
同軸落射照明是賽凱智能的獨(dú)自技術(shù),是在基板全部位置上,對(duì)于檢查部件從正上方照射同軸光的技術(shù)。同軸落射照明,不受相鄰零部件大小和高低的影響,使得 SAKI 機(jī)器能夠捕捉到焊端任意角度無(wú)陰影的影像。
2)SAKI 高解析度線性掃描 AOI,可用于任何高速生產(chǎn)線,實(shí)現(xiàn)爐前、爐后、綜合檢查的全自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)機(jī)。
3)SAKI 以其豐富的軟件支持系統(tǒng),滿足顧客的遠(yuǎn)程調(diào)試、一機(jī)多聯(lián)、條碼追索、MES接入,等各種需求,保護(hù)顧客的長(zhǎng)遠(yuǎn)投資。
技術(shù)規(guī)格
機(jī)器型號(hào) | BF-Planet-X Ⅱ | BF-Frontier Ⅱ | BF-Tristar Ⅱ | BF-10D | |
裝置特性 | 單面掃描測(cè)試 M 基板,最小元件 01005 | 單面掃描測(cè)試 LL 基板,最小元件 0201 | 雙面掃描同時(shí)測(cè)試 M 基板,最小元件 01005 | 雙軌、單面掃描測(cè)試 M~L 基板,最小元件 01005 | |
分辨率 | 10 um | 18 um / 9 um | 10 um | 10 um | |
基板尺寸 | 60 x 50 ~ 330 x 250 mm | 60 x 50 ~ 500 x 460 mm | 60 x 50 ~ 330 x 250 mm | 單軌道 : 60 x 50 ~ 330 x 460 mm 雙軌道 : 60 x 50 ~ 330 x 250 mm | |
基板翹曲 | ±2 mm | ±2 mm | ±1 mm | ±2 mm | |
零部件高度 | 上面 : 40 mm 下面 : 40 mm | 上面 : 40 mm 下面 : 40 mm | 上面 : 40 mm 下面 : 30 mm | 上面 : 40 mm 下面 : 40 mm | |
圖像掃描時(shí)間 (尺寸基板) | 約5秒 | 約5秒 | 約5秒 | 約8.5秒 | |
主要的檢查項(xiàng)目 | 零部件的有無(wú),位置偏差,橫側(cè)站立, 縱站立,表里反轉(zhuǎn),極性反轉(zhuǎn),橋接, 異物粘著,沒(méi)有焊錫,焊錫少,引腳漂浮, 芯片漂浮,圓角異常 | ||||
基板厚度 | 0.6 ~ 3.2 mm | ||||
照相機(jī) | CCD 線性感應(yīng)器照相機(jī) | ||||
照明 | LED 同軸落射照明 | ||||
可以連接系 統(tǒng)的選項(xiàng) | BF-Editor | √ | |||
BF-RP1 | √ | ||||
BF-Monitor | √ | ||||
BF-WebTracerII | √ | ||||
2D 條形碼識(shí)別功能 | √ | ||||
OK/NG信號(hào)輸出 | √ | ||||
涂上防濕劑檢查 | √ | ||||
設(shè)備外形尺寸 W x D x H | 600 x 915 x 1270 mm | 850 x 1340 x 1230 mm | 850 x 1295 x 1130 mm | 850 x 1360 x 1380 mm |
AOI光學(xué)檢測(cè)儀:義小姐