半導體測試儀 MOS管IGBT等器件靜態(tài)參數(shù)
| 品牌 : | 天光測控 | 型號 : | ST-SP 2000 |
| 加工定制 : | 是 | 類型 : | 分立器件測試儀 |
| 測量范圍 : | 電壓2000V，電流100A | 精確度 : | 正負%0.1精度 |
| 儀表尺寸 : | 200*100*80mm | 適用范圍 : | 分立器件測試儀 |
| 儀表重量 : | 5kg | 工作電源 : | 220v |
| 規(guī)格 : | 半導體參數(shù)測試儀 |
產品詳情
Product details
1． 系統(tǒng)配置簡介
1.1 系統(tǒng)概述
天光測控ST-SP 2000是一款很具有代表性的新型半導體晶體管圖示系統(tǒng)，本系統(tǒng)可自動生成功率器件的I-V曲線，也可根據(jù)客戶的實際需求設置功能測試，直接讀取數(shù)顯結果。系統(tǒng)在失效分析，IQC來料檢驗及高校實驗室等部門有廣泛的應用。系統(tǒng)生成的曲線都使用ATE系統(tǒng)逐點建立，保證了數(shù)據(jù)的準確可靠。系統(tǒng)典型的測試時間是6 to 20ms,通常上百個數(shù)據(jù)點曲線只需要幾秒鐘時間便可以展現(xiàn)出來，數(shù)據(jù)捕獲的曲線可導入EXCEL等格式進一步分析研究，是一款高效多功能的半導體測試設備。
半導體測試儀 MOS管IGBT等器件靜態(tài)參數(shù)
本系統(tǒng)使用方便，只需要通過USB或者RS232與電腦連接，通過電腦中友好的人機界面操作，即可完成測試。并可以實現(xiàn)測試數(shù)據(jù)以EXCEL和WORD的格式保存。系統(tǒng)提供過電保護功能，門極過電保護適配器提供了廣泛的診斷測試。這些自我測試診斷被編成測試代碼,以提供自我測試夾具,在任何時間都可以檢測。對診斷設備狀態(tài)和測試結果提供了可靠地保證。
1.2 天光測控ST-SP 2000測試儀指標
技術指標 | |||||
主極參數(shù) | 控制極參數(shù) | ||||
指標 | 標配 | 指標 | 標配 | ||
主極電壓: | 1mV-2000V | 控制極電壓： | 100mV-20V | ||
電壓分辨率： | 1mV | 電壓分辨率： | 1mV | ||
主極電流： | 0.1nA-100A | 可擴展1250A | 控制極電流： | 100nA-10A | |
電流分辨率： | 0.1nA | ||||
測試精度： | 0.2+2LSB | ||||
測試速度： | 0.5mS/參數(shù) | ||||
1.3 天光測控ST-SP 2000測試系統(tǒng)是一套高速多用途半導體分立器件智能測試系統(tǒng)，它具有十分豐富的編程軟件和強大的測試能力，可真實準確測試下列各種大、中、小功率的半導體分立器件。
測試范圍 / 測試參數(shù) | |||
序號 | 測試器件 | 測試參數(shù) | |
01 | 絕緣柵雙*功率晶體管 IGBT | ICES；IGESF；IGESR；BVCES；VGETH；VCESAT；ICON； VGEON；VF；GFS | |
02 | MOS場效應管 MOS-FET | IDSS；IDSV；IGSSF； IGSSR；VGSF；VGSR；BVDSS； VGSTH；VDSON、VF(VSD) IDON；VGSON；RDSON；GFS | |
03 | J型場效應管 J-FET | IGSS；IDOFF；IDGO；BVDGO；BVGSS；VDSON，VGSON； IDSS；GFS；VGSOFF | |
04 | 二極管 DIODE | IR；BVR ；VF | |
05 | 晶體管 （NPN型/PNP型） | ICBO；ICEO；ICER； ICES； ICEV；IEBO；BVCEO ；BVCBO； BVEBO；HFE；VCESAT；VBESAT；VBE(VBEON)；RE；VF | |
06 | 雙向可控硅 TRIAC | VD+；VD-；VT+ ； VT-；IGT；VGT ；IL+；IL-；IH+；IH- | |
07 | 可控硅 SCR | IDRM；IRRM；IGKO；VDRM；VRRM；BVGKO；VTM； IGT；VGT；IL；IH | |
08 | 硅觸發(fā)可控硅 STS | IH+； IH-；VSW+ ； VSW-；VPK+ ； VPK-；VGSW+；VGSW- | |
09 | 達林頓陣列 DARLINTON | ICBO； ICEO；ICER；ICES；ICEX；IEBO；BVCEO； BVCER；BVCEE；BVCES ；BVCBO；BVEBO；hFE ； VCESAT； VBESAT；VBEON | |
10 | 光電耦合 OPTO-COUPLER | ICOFF、ICBO；IR；BVCEO；BVECO；BVCBO；BVEBO； CTR；HFE；VCESAT； VSAT；VF(Opto-Diode) | |
11 | 繼電器 RELAY | RCOIL；VOPER；VREL；RCONT；OPTIME； RELTIME | |
12 | 穩(wěn)壓、齊納二極管 ZENER | IR；BVZ；VF；ZZ | |
13 | 三端穩(wěn)壓器 REGULATOR | Vout；Iin； | |
14 | 光電開關 OPTO-SWITCH | ICOFF；VD；IGT；VON；ION ；IOFF | |
15 | 光電邏輯 OPTO-LOGIC | IR；VF；VOH；VOL；IFON； IFOFF | |
16 | 金屬氧化物壓變電阻 MOV | ID+ ID-；VN+； VN-；VC+ ；VCLMP-；VVLMP+ ； | |
17 | 固態(tài)過壓保護器 SSOVP | ID+ ID-；VCLAMP+, VCLAMP-；VT+、VT-；IH+、 IH-；；IBO+ IBO-；VBO+ VBO-；VZ+ VZ- | |
18 | 壓變電阻 VARISTOR | ID+； ID-；VC+ ；VC- | |
19 | 雙向觸發(fā)二極管 DIAC | VF+,VF-,VBO+,VBO-,IBO+,IBO-,IR+,IR-, | |
1.4系統(tǒng)曲線測試列舉
ID vs. VDS at range of VGS
ID vs. VGS at fixed VDS
IS vs. VSD
RDS vs. VGS at fixed ID
RDS vs. ID at several VGS
IDSS vs. VDS
HFE vs. IC
BVCE（O,S,R,V） vs. IC
BVEBO vs. IE
BVCBO vs. IC
VCE（SAT） vs. IC
VBE（SAT） vs. IC
VBE（ON） vs. IC （use VBE test）
VCE（SAT） vs. IB at a range of ICVF vs. IF
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