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熱阻（抗）測(cè)試系統(tǒng) 詳細(xì)摘要： 熱阻（抗）測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試參數(shù)：Si / SiC / GaN 材料的 IGBTs / DIODEs / MOSFETs / BJTs / SCRs
產(chǎn)品型號(hào)：ST-Thermal_RZth 所在地：西安市 更新時(shí)間：2020-02-25 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
熱阻測(cè)試系統(tǒng) 詳細(xì)摘要： 熱阻測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試參數(shù)：可測(cè)試器件穩(wěn)態(tài)熱阻Rth（J-C）散熱：設(shè)備采用水冷散熱，用于測(cè)試IC、LED、散熱器、熱管等電子器件的熱特性
產(chǎn)品型號(hào)：T3Ster 所在地：西安市 更新時(shí)間：2020-02-25 參考價(jià)： 面議 在線留言