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溫濕度振動綜合試驗箱

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更新時間:2021-08-27 13:57:34瀏覽次數(shù):349

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產(chǎn)品簡介

產(chǎn)品型號:WSHWZ-080C產(chǎn)品簡介溫濕度振動綜合實驗箱又名三綜合試驗箱

詳細介紹

產(chǎn)品型號:

WSHWZ-080C

產(chǎn)品簡介

溫濕度振動綜合實驗箱又名三綜合試驗箱,產(chǎn)品結(jié)合溫度、濕度、振動功能于一體,適用于航空航天產(chǎn)品、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產(chǎn)品、各種電子元氣件在綜合的惡劣環(huán)境下檢驗其各項性能指標。

產(chǎn)品用途

溫濕度振動綜合實驗箱主要為航天、航空、石油、化工、電子、通訊等科研及生產(chǎn)單位提供溫濕度變化環(huán)境,同時可在試驗箱內(nèi)將電振動應(yīng)力按規(guī)定的周期施加到試品上,供用戶對整機(或部件)、電器、儀器、材料等作溫濕度、振動綜合應(yīng)力篩選試驗,以便考核試品的適應(yīng)性或?qū)υ嚻返男袨樽鞒鲈u價。與單一因素作用相比,更能真實地反映電工電子產(chǎn)品在運輸和實際使用過程中對溫濕度及振動復(fù)合環(huán)境變化的適應(yīng)性,暴露產(chǎn)品的缺陷,是新產(chǎn)品研制、樣機試驗、產(chǎn)品合格鑒定試驗全過程的重要試驗手段。

適用標準:
?GB10589-89低溫試驗箱技術(shù)條件;
?GB10592-89高低溫試驗箱技術(shù)條件;
?GB2423.1-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A:低溫試驗方法;
?GB2423.2-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗B:高溫試驗方法;
?IEC68-2-1基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A:寒冷;
?IEC68-2-2基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗B:干熱;
?GJB150.3-86設(shè)備環(huán)境試驗方法 高溫試驗;
?GJB150.4-86設(shè)備環(huán)境試驗方法 低溫試驗;
    GB11158;GB10592;GB10589;GB2423.1、2、22;GJB150.3-86;GJB150.4-86等;
?GB/T2423.3-93電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Ca恒定濕熱試驗方法;
?GB/T2423.4-93電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Db交變濕熱試驗方法;
?GJB150.9-86設(shè)備環(huán)境試驗方法  濕熱試驗;

技術(shù)參數(shù)

型號

WSHW-080

WSHW-150

WSHW-225

WSHW-408

WSHW-800

WSHW-1000

內(nèi)部尺寸 WxHxD (cm)

40x50x40

50x60x50

50x75x60

60x85x80

100x100x80

100x100x100

外部尺寸WxHxD (cm)

90x136x94

100x146x104

100x161x117

110x171x137

150x186x137

150x186x157

溫度范圍

G:-20~150℃ Z:-40~150℃ D:-70~150℃

濕度范圍

20%~98%R.H.(10%-98%R.H/5%~98%R.H為特殊選用條件)

溫濕度解析精度/均勻度

±0.1℃;±0.1%R.H./ ±1.0℃;±3.0%R.H.

溫濕度控制精度/波動度

±1.0℃;±2.0%R.H./ ±0.5℃;±2.0%R.H.

升溫/降溫時間

約4.0℃/分鐘;約1.0℃/分鐘(每分鐘下降5~10℃為特殊選用條件)

內(nèi)外部材質(zhì)

全機為SUS 304#不銹鋼板霧面處理,內(nèi)箱為不銹鋼

保溫材質(zhì)

耐高溫高密度氯基甲酸乙醋泡沫絕緣體材料

冷卻系統(tǒng)

風(fēng)冷式/單段壓縮機(-20℃) ,風(fēng)、水冷式/雙段壓縮機(-40℃~-70℃)

振動系統(tǒng)

正弦推力:300kgf
隨機推力:240kgf
使用頻率范圍:DC~5000Hz
臺面直徑:Φ186mm
連續(xù)加速度:80g
連續(xù)速度:1.80m/s
位移:25mm
漏磁:≤1.5mT
臺體運動部件質(zhì)量:3.8kg
外形尺寸:660×540×780
系統(tǒng)總功耗:6KVA
臺體重量:360kg
承載:120kg

控制頻率范圍: 1-5000Hz
頻率示值誤差:5Hz振動信號幅值精度:≤0.5dB
信號失真度:≤0.3%(f≤2000Hz); ≤0.5%(f>2000Hz)
振動方式:定頻、掃頻。
掃頻方式:對數(shù)、線性
掃頻速率:0.3-20ct/min
掃頻誤差:≤0.001%
試驗譜設(shè)置:交越頻率點個數(shù)不限。
控制方式:值、最小值、平均值
動態(tài)范圍:100dB
控制精度:±0.5dB
諧波失真:≤0.3%
壓縮精度:≤±1.5dB
壓縮速度:自適應(yīng)
隨機振動控制
頻率范圍:0.3-5000Hz
頻率分辨率:100、200、400、800、1600線
控制譜動態(tài)范圍:≥80dB(JJG948-1999規(guī)定譜形、自閉環(huán))
控制精度:PSD≤±0.7dB(90%置信度)
回路時間:<100mS(不含顯示時間)
控制方式:值、最小值、平均值、加權(quán)平均控制
試驗譜設(shè)置:交越頻率點個數(shù)不限。
振級設(shè)置:在0—20dB范圍內(nèi),試驗振級及時間任意設(shè)定。
正弦加隨機控制
寬頻控制:寬帶控制性能和隨機控制一致
正弦信號:實時生成12個不同頻率的正弦信號,每個正弦信號的頻率連續(xù)變化
閉環(huán)控制:隨機按功率譜控制,正弦按幅值控制
頻率范圍:在寬帶范圍內(nèi)設(shè)置上下限頻率
掃頻速率:線性0~1000Hz/min,對數(shù)0~20oct/min
掃描方向:向上或向下
掃頻模式:線性或?qū)?shù)或定頻
諧波掃描:可選擇倍頻程和非倍頻程方式
炮振設(shè)置:設(shè)置各子波運行時間和停止時間
計劃設(shè)置:進度表開啟或關(guān)閉各窄帶
沖擊波形:半正弦、前峰據(jù)齒、后峰據(jù)齒、梯形波、三角波、矩形波。
沖擊波形補償:前補償、后補償、前后補償,補償時間、補償形式按ML-STD810標準或自定義。
沖擊脈寬:1~500 ms
每分鐘沖擊次數(shù):1~1000 依沖擊脈寬、每幀點數(shù)而定。

配件

記錄器(選購)、觀視窗、50mm測試孔、PL箱內(nèi)燈、隔板、干濕球紗布

控制器

韓國“TEMI” South Korea“TEMI” 或日本“OYO”牌 Japan's “OYO” Brand  任選

壓縮機

法國“泰康”牌

電源

380VAC±10% 50Hz

 

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