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主營產(chǎn)品: 粉末壓片機(jī),紅外壓片機(jī),壓片模具、紅外烘烤箱、溴化鉀粉末,光學(xué)平臺(tái),精密光學(xué)平臺(tái),單光子計(jì)數(shù)實(shí)驗(yàn)系統(tǒng),光學(xué)平板,邁克爾遜干涉儀,色度測量實(shí)驗(yàn)裝置,黑體實(shí)驗(yàn)裝置,紫外燈,掌上離心機(jī)

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共計(jì) 5 條產(chǎn)品信息

產(chǎn)品圖片 產(chǎn)品名稱
SB100A/20A四探針金屬/半導(dǎo)體電阻率測量儀
SB100A/20A四探針金屬/半導(dǎo)體電阻率測量儀
簡單介紹:SB100A/20A四探針金屬/半導(dǎo)體電阻率測量儀
SB100A/20A是SB100A/20(及SB100A/2)的升級(jí)版,其為用戶提供了使用SB100A/20進(jìn)行四探針測試及實(shí)驗(yàn)的配套軟件,可運(yùn)行于PC機(jī)上,能兼容運(yùn)行在Winxp和Win7系統(tǒng)中,用于自動(dòng)獲取實(shí)驗(yàn)臺(tái)的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù),并根據(jù)條件生成曲線和報(bào)表,輔助實(shí)驗(yàn)人員自動(dòng)完成實(shí)驗(yàn),直觀的分析數(shù)據(jù),獲得實(shí)驗(yàn)結(jié)論,保存實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)。
產(chǎn)品型號(hào):   所在地:天津市   更新時(shí)間:2018-05-15
參考價(jià):面議 詢價(jià)留言
RTS-5型雙電測四探針測試儀
RTS-5型雙電測四探針測試儀
簡單介紹:RTS-5型雙電測四探針測試儀采用了四探針雙電測組合(亦稱雙位組合)測量新技術(shù),將范德堡測量方法推廣應(yīng)用到直線四探針上,利用電流探針、電壓探針的變換,在計(jì)算機(jī)控制下進(jìn)行兩次電測量,能自動(dòng)消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對(duì)測量結(jié)果的影響。因而每次測量不必知道探針間距、樣品尺寸及探針在樣品表面上的位置。由于每次測量都是對(duì)幾何因素的影響進(jìn)行動(dòng)態(tài)的自動(dòng)修正,因此顯著降低了幾何因素影
產(chǎn)品型號(hào):   所在地:天津市   更新時(shí)間:2018-05-15
參考價(jià):面議 詢價(jià)留言
RTS-9型雙電測四探針測試儀
RTS-9型雙電測四探針測試儀
簡單介紹:RTS-9型雙電測四探針測試儀采用了四探針雙電測組合(亦稱雙位組合)測量新技術(shù),將范德堡測量方法推廣應(yīng)用到直線四探針上,利用電流探針、電壓探針的變換,在計(jì)算機(jī)控制下進(jìn)行兩次電測量,能自動(dòng)消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對(duì)測量結(jié)果的影響。因而每次測量不必知道探針間距、樣品尺寸及探針在樣品表面上的位置。由于每次測量都是對(duì)幾何因素的影響進(jìn)行動(dòng)態(tài)的自動(dòng)修正,因此顯著降低了幾何因素影
產(chǎn)品型號(hào):   所在地:天津市   更新時(shí)間:2018-05-15
參考價(jià):面議 詢價(jià)留言
RTS-4型四探針測試儀
RTS-4型四探針測試儀
簡單介紹:RTS-4型四探針測試儀是運(yùn)用四探針測量原理的多用途綜合測量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的,于測試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的儀器。
儀器由主機(jī)、測試臺(tái)、四探針探頭、計(jì)算機(jī)等部分組成,測量數(shù)據(jù)既可由主機(jī)直接顯示,亦可由計(jì)算機(jī)控制測試采集測試數(shù)據(jù)到計(jì)算機(jī)中加以分析,然后以表格,圖形方式統(tǒng)計(jì)分析顯示測試結(jié)果。
產(chǎn)品型號(hào):   所在地:天津市   更新時(shí)間:2018-05-15
參考價(jià):面議 詢價(jià)留言
RTS-8型四探針測試儀
RTS-8型四探針測試儀
簡單介紹:RTS-8型四探針測試儀是運(yùn)用四探針測量原理的多用途綜合測量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的,于測試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的儀器。
儀器由主機(jī)、測試臺(tái)、四探針探頭、計(jì)算機(jī)等部分組成,測量數(shù)據(jù)既可由主機(jī)直接顯示,亦可由計(jì)算機(jī)控制測試采集測試數(shù)據(jù)到計(jì)算機(jī)中加以分析,然后以表格,圖形方式統(tǒng)計(jì)分析顯示測試結(jié)果。
產(chǎn)品型號(hào):   所在地:天津市   更新時(shí)間:2018-05-15
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