儀器簡介：

 華測儀器-高溫介電溫譜測試儀從專業(yè)角度來說，其實就是高溫介電溫譜測量系統(tǒng)。主要用于絕緣材料在不同溫度不同頻率下的電學性能測試，系統(tǒng)包含高溫爐膛，阻抗分析儀，微電流表，夾具，測試軟件于一體，可 測試材料的介電常數(shù)，介質(zhì)損耗，阻抗譜 Co-Co 圖， 機電耦合系數(shù)等，同時可分析被測樣品隨溫度，頻率，時間變化的曲線，測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項目要求選購。

 華測儀器-高溫介電溫譜測試儀是為了滿足材料在高溫環(huán)境下的介電性能測量需求而設計的。它由硬件設備和測量軟件組成，包括高溫介電測量儀主機、高溫介電測量系統(tǒng)軟件、高溫測試夾具、阻抗分析儀四個組成部分。根據(jù)測量需要，還可以外接真空油泵進行真空環(huán)境的介電測量。

系統(tǒng)介紹：

系統(tǒng)配置：Acer商用計算機，信號切換與控制系統(tǒng)，高溫儀及溫控系統(tǒng)，四通道夾具， 測試與數(shù)據(jù)采集軟件（軟件兼容同惠LCR表以及是德（安捷倫）E4980AL型LCR表和4294A型阻抗分析儀）；

輸入端口：四個BNC端口；

輸出端口：10個SMA輸出端口，需采用SMA接頭以提高高頻測試穩(wěn)定性（頻率大于1MHz時）；

溫度范圍：室溫 至850℃（額定溫區(qū)，長時間使用溫度），室溫 至1000℃（極限溫區(qū)，短時間使用）；

系統(tǒng)屏蔽：通道切換主板預埋屏蔽層設計，連接線材采用射頻同軸線，以保證低頻與高頻測試精度和穩(wěn)定性；

測試夾具：融石英與探針復合夾具。其中探針需使用氧化鋁與鉑金復合結構，芯層為鉑金，絕緣層為氧化鋁，屏蔽層為鉑金并屏蔽至樣品端。以保證*高溫測試穩(wěn)定性；

同時測量樣品數(shù)：4個；

測試頻率范圍：20Hz至10 MHz(依據(jù)配套LCR表或阻抗分析儀頻率)，基本準確度0.05%；

升溫速率：升溫速率0.1-10℃/min，測溫精度±0.1℃

測試樣品直徑：2 mm至25 mm；

樣品厚度：0.02 mm至4 mm；

單樣品測試頻率數(shù)：6個頻率測量功能；

變溫介電頻譜測試功能；

變溫阻抗測試功能。

應用領域：

新型復合絕緣擦亮

高分子絕緣材料

無機絕緣材料

有機絕緣材料

其它絕緣材料等