| 北京華測(cè)試驗(yàn)儀器有限公司
主營(yíng)產(chǎn)品： 實(shí)驗(yàn)儀器 |
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主營(yíng)產(chǎn)品： 實(shí)驗(yàn)儀器 |
| 產(chǎn)品圖片 | 產(chǎn)品名稱 | |||
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HCDH-300低壓漏電起痕測(cè)試儀 簡(jiǎn)單介紹：低壓漏電起痕測(cè)試儀（電痕化指數(shù)試驗(yàn)）是在固體絕緣材料表面上，在規(guī)定尺寸 （ 2mm × 5mm ） 的鉑電極之間，施加某一電壓并定時(shí) （30s） 定高度 （ 35mm ） 滴下規(guī)定液滴體積的導(dǎo)電液體 （0.1%NH 4 CL） ，用以評(píng)價(jià)固體絕緣材料表面在電場(chǎng)和潮濕或污染介質(zhì)聯(lián)合作用下的耐漏電性能，測(cè)定其相比電痕化指數(shù) （CT1） 和耐電痕化指數(shù)（PT1） 。 產(chǎn)品型號(hào)：HCDH-300 所在地：北京市 更新時(shí)間：2023-12-25 |
參考價(jià):¥45443 詢價(jià)留言 | ||
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HCLD-3華測(cè)儀器-低壓漏電起痕測(cè)試儀 簡(jiǎn)單介紹：華測(cè)儀器-低壓漏電起痕測(cè)試儀是按IEC60695、GB4207/IEC60112等標(biāo)準(zhǔn)要求設(shè)計(jì)制造的檢測(cè)儀器，適用于對(duì)電工電子產(chǎn)品、家用電器的固體絕緣材料及其產(chǎn)品模擬在潮濕條件下相比漏電起痕指數(shù)和耐漏電起痕指數(shù)的測(cè)定，具有簡(jiǎn)便、準(zhǔn)確、可靠、實(shí)用等特點(diǎn)。 產(chǎn)品型號(hào)：HCLD-3 所在地：北京市 更新時(shí)間：2023-12-25 |
參考價(jià):¥45333 詢價(jià)留言 | ||
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低壓漏電起痕測(cè)試儀 簡(jiǎn)單介紹：低壓漏電起痕測(cè)試儀是在固體絕緣材料表面上，在規(guī)定尺寸（2mm×5mm）的鉑電極之間，施加某一電壓并定時(shí)（30S）定高度（35mm）滴下規(guī)定液滴體積的污染液體（0.1%NH4CL），用以評(píng)價(jià)固體絕緣材料表面在電場(chǎng)和污染介質(zhì)聯(lián)合作用下的耐受能力，測(cè)定其相比電痕化指數(shù)（CT1）和耐電痕化指數(shù)（PT1）。 產(chǎn)品型號(hào)： 所在地：北京市 更新時(shí)間：2023-12-25 |
參考價(jià):¥45433 詢價(jià)留言 | ||
