深圳市偉峰儀器儀表有限公司

主營(yíng)產(chǎn)品: 塵埃粒子計(jì)數(shù)器,熱式風(fēng)速儀,黑光燈,奧林巴斯測(cè)厚儀,漆膜測(cè)厚儀

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公司信息

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殷正偉
址:
深圳市寶安區(qū)沙井新和大道127號(hào)新城市廣場(chǎng)E1306室
編:
518125
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35DLPanametrics 35DL超聲波測(cè)厚儀
Panametrics 35DL超聲波測(cè)厚儀
參考價(jià) 面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 型號(hào) 35DL
  • 品牌
  • 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
  • 所在地 深圳市

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更新時(shí)間:2018-05-14 09:00:00瀏覽次數(shù):6626

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【簡(jiǎn)單介紹】
Panametrics 35DL超聲波測(cè)厚儀在大多數(shù)應(yīng)用中都可應(yīng)用35型和35DL型
35型和35DL型超聲波測(cè)厚儀使用頻率范圍為2.25~30 MHz的探頭,因此這些通用型測(cè)厚儀可完成大多數(shù)從極薄到極厚材料的厚度測(cè)厚。一般來(lái)說(shuō),探頭頻率越高而直徑越小,對(duì)較薄或彎曲的工件測(cè)量的精度越高。
【詳細(xì)說(shuō)明】

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
超薄鋼板(0.10毫米或0.004英寸)的厚度和波形。                                                                                            
分辨率(通過(guò)鍵區(qū)可選):
低: 0.1 mm (0.01 in.)
標(biāo)準(zhǔn): 0.01 mm (0.001 in.)
高: 0.001 mm  

 


Panametrics 35DL超聲波測(cè)厚儀在大多數(shù)應(yīng)用中都可應(yīng)用35型和35DL型 
35型和35DL型超聲波測(cè)厚儀使用頻率范圍為2.2530 MHz的探頭,因此這些通用型測(cè)厚儀可完成大多數(shù)從極薄到極厚材料的厚度測(cè)厚。一般來(lái)說(shuō),探頭頻率越高而直徑越小,對(duì)較薄或彎曲的工件測(cè)量的精度越高。

美國(guó)泛美超聲波測(cè)厚儀系列的特性

所有型號(hào)的標(biāo)準(zhǔn)配置均包含聲速和減縮率測(cè)量。
• 可測(cè)厚度范圍寬:0.08 mm635.0 mm(0.0030 in.25.0 in.),取決于儀器和材料。
• 采用接觸式、延遲線式、水浸式探頭。
• 自動(dòng)調(diào)用功能可調(diào)用默認(rèn)設(shè)置和自定義設(shè)置。
• 手持式,僅重0.24公斤(8.5盎司。
• zui小/zui大模式
• -低報(bào)警
• 英制和公制顯示英寸或毫米
• 多種語(yǔ)言用戶界面
• *電池

Panametrics 35DL超聲波測(cè)厚儀應(yīng)用

• 從薄到厚的大多數(shù)材料
• 薄如0.08毫米(0.003英寸的塑料瓶、管件、管道、及板材
• 薄如0.10毫米(0.004英寸的金屬容器、鋼卷材及機(jī)加工部件
• 汽缸孔、渦輪葉片
• 玻璃燈泡、瓶子
• 薄玻璃纖維、橡膠、陶瓷及復(fù)合材料
• 半徑較小的曲面部分或容器
• 分辨率可達(dá)0.001毫米或0.0001英寸

 

 

 

 

利用減縮率,可測(cè)量金屬材料因彎曲而變薄的臨界厚度值。

Panametrics 35DL超聲波測(cè)厚儀減縮率測(cè)量

所有儀器型號(hào)的標(biāo)準(zhǔn)配置都具有差分模式和減縮率模式。差分模式顯示實(shí)測(cè)厚度與預(yù)設(shè)厚度之間的差值變化??s減率計(jì)算并顯示材料變薄以后厚度縮減的百分比。典型的應(yīng)用是對(duì)為制造車身面板而彎曲成形的鋼板進(jìn)行測(cè)量。

 

 

 

 

可直接顯示聲速數(shù)值的聲速測(cè)量模式

Panametrics 35DL超聲波測(cè)厚儀材料聲速測(cè)量 
所有Panametrics 35型儀器均具有測(cè)量材料聲速的性能。在材料聲速與其它特性可能有關(guān)系的應(yīng)用中,這個(gè)標(biāo)準(zhǔn)功能非常有用。典型應(yīng)用包括監(jiān)測(cè)金屬鑄件的球化程度,以及監(jiān)測(cè)復(fù)合材料/玻璃纖維材料的密度變化。Olympus提供一個(gè)數(shù)字卡尺,用于自動(dòng)傳輸測(cè)量厚度值。

Panametrics 35DL超聲波測(cè)厚儀自動(dòng)調(diào)用功能可簡(jiǎn)化測(cè)量操作
自動(dòng)調(diào)用功能可使厚度測(cè)量簡(jiǎn)化。在選擇了任何一種所存的探頭時(shí),35型儀器都可調(diào)用相關(guān)內(nèi)置探頭的所有參數(shù)。
Panametrics 35DL超聲波測(cè)厚儀存儲(chǔ)的標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置包括大多數(shù)常用的探頭。
Panametrics 35DL超聲波測(cè)厚儀存儲(chǔ)的自定義設(shè)置在標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置不能滿足特殊的應(yīng)用需求時(shí),這些測(cè)厚儀可以創(chuàng)建、存儲(chǔ)和調(diào)用多達(dá)20個(gè)自定義設(shè)置(35型和35HP型可調(diào)用10個(gè)自定義設(shè)置

Panametrics 35DL超聲波測(cè)厚儀配合M208探頭應(yīng)用

 

 

 

 

在這種基本應(yīng)用中不可使用測(cè)微計(jì)。然而,可以使用配有M208探頭的35型儀器,在不損壞玻璃的情況下,進(jìn)行校準(zhǔn)精度達(dá)0.001毫米(0.0001英寸的厚度測(cè)量

 

 

 

超薄鋼板(0.10毫米或0.004英寸的厚度和波形。

分辨率通過(guò)鍵區(qū)可選

低:

0.1 mm

(0.01 in.)

標(biāo)準(zhǔn):

0.01 mm

(0.001 in.)

高:

0.001 mm

(0.0001 in.)
(35型和35DL

渡越時(shí)間測(cè)量范圍:0.0 µs109.5 µs
渡越時(shí)間分辨率:固定在000.01 µs。
測(cè)量更新速率:4、8、16或zui大頻率值(1620 Hz,因應(yīng)用和測(cè)量模式不同而不同
探頭頻率范圍:2.25 MHz30 MHz(35型和35DL
0.5 MHz5.0 MHz(35HP型和35DL-HP
zui小/zui大模式:顯示當(dāng)前厚度、zui小厚度或zui大厚度視設(shè)置而定
顯示保持/空白:顯示上一個(gè)讀數(shù)后,屏幕顯示空白或者持續(xù)顯示這個(gè)讀數(shù)。
報(bào)警模式:可編程高/低報(bào)警設(shè)定點(diǎn),帶有視聽報(bào)警指示器。

差分模式:顯示實(shí)際測(cè)量值和參考值之間的厚度差。
縮減率模式:顯示厚度數(shù)值及實(shí)測(cè)厚度與參考厚度的百分比差值。
自動(dòng)調(diào)用功能:自動(dòng)為各種默認(rèn)的和自定義的探頭設(shè)置調(diào)節(jié)內(nèi)部參數(shù)。

Panametrics 35DL超聲波測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)附件 
手腕帶、3節(jié)AA電池、試塊、探頭線纜、耦合劑、便攜箱、指導(dǎo)手冊(cè)、兩年有限保修。



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