北方華測(cè)科技有限公司

主營(yíng)產(chǎn)品: 導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試儀,絕緣油擊穿電壓測(cè)試儀,電阻率測(cè)定儀,電弱點(diǎn)測(cè)試儀

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共計(jì) 2 條產(chǎn)品信息

產(chǎn)品圖片 產(chǎn)品名稱
華測(cè)電弱點(diǎn)測(cè)試儀 可測(cè)聚氨脂薄膜
華測(cè)電弱點(diǎn)測(cè)試儀 可測(cè)聚氨脂薄膜
簡(jiǎn)單介紹:華測(cè)電弱點(diǎn)測(cè)試儀,本測(cè)試儀試驗(yàn)電壓是0-20kV交直流電壓,其波動(dòng)為±1%。測(cè)試儀在試樣弱點(diǎn)擊穿后約0.1s內(nèi)使電壓回升到原來(lái)設(shè)定的電壓。銅輥為下電極,導(dǎo)電橡膠為上電極。薄膜以3m/min的速度移動(dòng)。遇弱點(diǎn)時(shí)擊穿,擊穿點(diǎn)自動(dòng)累積計(jì)數(shù)。膜移動(dòng)以平方數(shù)自動(dòng)計(jì)數(shù)。華測(cè)電弱點(diǎn)測(cè)試儀 可測(cè)聚氨脂薄膜
產(chǎn)品型號(hào):   所在地:北京市   更新時(shí)間:2024-01-05
參考價(jià):¥34332 詢價(jià)留言
HCDH-200華測(cè)漏電起痕試驗(yàn)儀 耐電痕化指數(shù)
HCDH-200華測(cè)漏電起痕試驗(yàn)儀 耐電痕化指數(shù)
簡(jiǎn)單介紹:漏電起痕試驗(yàn)儀是GB 4706.1-2008 GB 4207-2003 GB/T6553-2003 IEC60112 -2003《固體絕緣材料耐電痕化指數(shù)和相比電痕化指數(shù)的測(cè)定方法》,UL 746A、ASTM D 3638-92、DIN 53480等標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的模擬試驗(yàn)項(xiàng)目。華測(cè)漏電起痕試驗(yàn)儀 耐電痕化指數(shù)
產(chǎn)品型號(hào):HCDH-200   所在地:北京市   更新時(shí)間:2023-12-25
參考價(jià):¥4543 詢價(jià)留言
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