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產地類別 | 進口 | 應用領域 | 電子,電氣,綜合 |
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Seinan industries SE-HAEMD霍爾效應測試儀是用于測量半導體材料的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數(shù)等重要參數(shù),而這些參數(shù)是了解半導體材料電學特性必須預先掌控的,因此是理解和研究半導體器件和半導體材料電學特性*的工具。
Seinan industries SE-HAEMD霍爾效應測試儀概要
半導體樣品的基本物理性能評價系統(tǒng)
設定好樣品后,通過連接的PC機的操作執(zhí)行控制,顯示電阻率、攜帶型載流子濃度和遷移率的計算結果。
彈簧板探頭保證了電接觸,所以不需要電線本田
我們將根據(jù)您的研究和使用條件進行設計和生產
Seinan industries SE-HAEMD霍爾效應測試儀設備配置和規(guī)格
計量系統(tǒng)的主要單位
直流電流源和直流電壓表是獨立的。
穩(wěn)定而良好的測量
用范德寶法測量
通過磁場的自動反轉機構進行自動測量。
樣品架
通過探針類型輕松交換樣品
磁鐵
低漏磁的永磁體
磁場強度可以通過選項改變。
磁場強度可以通過選項改變。
計量
設定參數(shù)后,全自動測量,包括磁場旋轉。
測量和計算
直流電流源
最大輸出:±200mA
低分辨率:100nA
輸出噪聲:30nAp-p以下(3mA, 1kΩ)
幾毫安范圍,DC-100Hz低頻噪聲。
直流電壓表
最大允許輸入電壓:1kV
低分辨率:100nV
100mV范圍
輸入阻抗:1GΩ
100mA范圍
顯示位數(shù):6位
樣品形狀:10毫米見方,厚度2毫米以下。
探頭位置可調整為7~18mm。
磁鐵
磁場強度:5.5kOe。
測量環(huán)境
測量溫度:室溫
尺寸
H760㎜×W660㎜×D532㎜
電腦操作環(huán)境
兼容Windows7、XP、Vista
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