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詳細(xì)介紹
產(chǎn)品介紹：
XAD系列X熒光光譜儀是一款全元素上照式光譜儀，可測量納米級厚度、微小樣品和凹槽異形件的膜厚，也可滿足微區(qū)RoHS檢測及多元素成分分析，*的算法及解譜技術(shù)解決了諸多業(yè)界難題。
性能優(yōu)勢：
1. 微小樣品檢測：最小測量面積0.0085mm²
2. 變焦裝置算法：可改變測量距離測量凹凸異形樣品，變焦距離可達(dá)0-90mm
3. 核心EFP算法：Al(13)-U(92)元素的成分分析，Li(3)-U(92)元素的涂鍍層檢測，多層多元素，甚至有同種元素在不同層也可精準(zhǔn)測量
4. *的解譜技術(shù)：減少能量相近元素的干擾，降低檢出限
5. 高性能探測器：SDD硅漂移窗口面積50mm²探測器
6. X射線裝置：微焦加強(qiáng)型射線管搭配聚焦裝置
7. 上照式設(shè)計：實現(xiàn)對超大樣品或者密集點位進(jìn)行快、準(zhǔn)、穩(wěn)高效率測量
8. 大行程移動平臺：手動XY滑臺100*150mm，自動XY平臺210*260mm
應(yīng)用領(lǐng)域：
涂鍍層分析-RoHS檢測-地礦全元素分析-合金、貴金屬檢測
XAD系列X熒光光譜儀是一款全元素上照式光譜儀，可測量納米級厚度、微小樣品和凹槽異形件的膜厚，也可滿足微區(qū)RoHS檢測及多元素成分分析，*的算法及解譜技術(shù)解決了諸多業(yè)界難題。
性能優(yōu)勢：
1. 微小樣品檢測：最小測量面積0.0085mm²
2. 變焦裝置算法：可改變測量距離測量凹凸異形樣品，變焦距離可達(dá)0-90mm
3. 核心EFP算法：Al(13)-U(92)元素的成分分析，Li(3)-U(92)元素的涂鍍層檢測，多層多元素，甚至有同種元素在不同層也可精準(zhǔn)測量
4. *的解譜技術(shù)：減少能量相近元素的干擾，降低檢出限
5. 高性能探測器：SDD硅漂移窗口面積50mm²探測器
6. X射線裝置：微焦加強(qiáng)型射線管搭配聚焦裝置
7. 上照式設(shè)計：實現(xiàn)對超大樣品或者密集點位進(jìn)行快、準(zhǔn)、穩(wěn)高效率測量
8. 大行程移動平臺：手動XY滑臺100*150mm，自動XY平臺210*260mm
應(yīng)用領(lǐng)域：
涂鍍層分析-RoHS檢測-地礦全元素分析-合金、貴金屬檢測
一般情況下：
劃線價格：劃線的價格可能是商品的銷售指導(dǎo)價或該商品的曾經(jīng)展示過的銷售價等，并非原價，僅供參考。
未劃線價格：未劃線的價格是商品在阿里巴巴中國站上的銷售標(biāo)價，具體的成交價格根據(jù)商品參加活動，或因用戶使用優(yōu)惠券等發(fā)生變化，最終以訂單結(jié)算頁價格為準(zhǔn)。
活動預(yù)熱狀態(tài)下：
劃線價格：劃線的價格是商品在目前活動預(yù)熱狀態(tài)下的銷售標(biāo)價，并非原價，具體的成交價可能因用戶使用優(yōu)惠券等發(fā)生變化，最終以訂單結(jié)算頁價格為準(zhǔn)。
未劃線價格：未劃線的價格可能是商品即將參加活動的活動價，僅供參考，具體活動時的成交價可能因用戶使用優(yōu)惠券等發(fā)生變化，最終以活動是訂單結(jié)算頁價格為準(zhǔn)。
伙拼折上折活動狀態(tài)下：
該商品（部分規(guī)格除外）在伙拼折上折活動期間內(nèi)，買家可享受伙拼折上折活動優(yōu)惠價格（該價格較同時期伙拼日?；顒觾r格更優(yōu)惠）。
*注：前述說明僅當(dāng)出現(xiàn)價格比較時有效。若商家單獨(dú)對劃線價格進(jìn)行說明的，以商家的表述為準(zhǔn)。
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