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詳細(xì)介紹
二極管陣列檢測器（DAD）和紫外/可見檢測器(UV/VIS)都是液相色譜（包括離子色譜）中常見的光學(xué)檢測器。二極管陣列檢測器可以實(shí)時掃描全光譜吸收圖，因此可以判斷色譜峰中是否有干擾存在，這是紫外/可見檢測器所不具備的優(yōu)勢；特別是對于基體復(fù)雜、有潛在光譜干擾（例如有顏色的）的樣品來說，二極管陣列檢測器具備更強(qiáng)的抗力。然而，二極管陣列檢測器需要用到較復(fù)雜的光譜處理軟件，使用難度較大；另外由于光路設(shè)計的緣故使得噪聲較大，檢出限不盡如人意。PRIN-CEN充分了解痕量六價鉻分析項(xiàng)目對儀器的要求，同時深入研究了二極管陣列檢測器光路設(shè)計，并且按照痕量六價鉻分析的要求對硬件和軟件都進(jìn)行了改良，從而推出了Trace Light Detector。 它將實(shí)時干擾扣除技術(shù)和高強(qiáng)度光源/長光程流通池技術(shù)相融合（長光程流通池是CEN/TC 52/WG 5/TG 2 N 162，EN 71-3 - Proposal for Chromium VI test method中推薦的配置）。實(shí)踐證明Trace Light Detector具有出色的靈敏度和的抗力。
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