產(chǎn)品簡介 WaveMaster® 多功能球面及非球面波前測試系統(tǒng)﹡ 概述 WaveMaster® 是應(yīng)用于球面及非球面光學(xué)波前實(shí)時(shí)測量和分析的新型設(shè)備,具備高空間分辨率和精度,可輕松的建立有限軛或無限軛結(jié)構(gòu),并整合了波前傳感技術(shù)。高精度、可5維調(diào)節(jié)的樣品夾持器使被測樣品的調(diào)節(jié)簡單快速。
詳細(xì)介紹 WaveMaster LAB 精密多功能球面及非球面波前測試系統(tǒng)概述: WaveMaster 是應(yīng)用于球面及非球面光學(xué)波前實(shí)時(shí)測量和分析的新型設(shè)備。WaveMaster 具備高空間分辨率和精度,可輕松的建立有限軛或無限軛結(jié)構(gòu),并整合了波前傳感技術(shù)。同時(shí)高精度的、可5維調(diào)節(jié)的樣品夾持器使被測樣品的調(diào)節(jié)簡單快速。系統(tǒng)主要特征包括: • 非球面透鏡檢測以波前傳感器作為測量工具 • 實(shí)時(shí)波前監(jiān)測 • 高空間分辨率和精度 • 快速的非球面透鏡透射式測量 • 可對有限軛及無限軛樣品測量 • 配套工具使被測樣品的調(diào)節(jié)快速可靠 • 簡便的操作和快速的測量適用于批量生產(chǎn); • 可提供波前圖、Zernike系數(shù)等各種數(shù)據(jù) • 封閉式設(shè)計(jì)可排除周圍環(huán)境影響,使各種元件順利測量 • 防振式結(jié)構(gòu),避免振動影響 相關(guān)軟件可通過多種方式測量和顯示波前數(shù)據(jù)。同時(shí)也包括擴(kuò)展的分析功能和數(shù)據(jù)儲存。另外可導(dǎo)入理論數(shù)據(jù)與測量的實(shí)際數(shù)據(jù)對比。系統(tǒng)組件: 波前傳感器: • 孔徑尺寸:15×15 mm2 • 被測透鏡陣列: 128×128 • 動態(tài)傾斜范圍:>±3° (1500λ) • 動態(tài)聚焦范圍:±0.03 m ~ ±∞ (1800λ) • 光譜范圍:350 — 1100 nm • 重復(fù)性(RMS):<λ/200 • 波前相對)精度(RMS):λ/20 (λ/50) • 傾斜測量靈敏度:< 1μrad • 聚焦測量靈敏度:5×10-4 m-1 • 測量頻率:3.5 Hz • 14 bit – Firewire 照相機(jī) 激光光源: • 波長635nm • 可用作準(zhǔn)直光源(Φbeam≥ 5 mm,WF < λ/15 P.V.)或點(diǎn)光源(NA0.7) 光學(xué)成像系統(tǒng): • 建立有限式和無限式測量 • 根據(jù)不同系統(tǒng)的放大倍率更換望遠(yuǎn)系統(tǒng) • 更換準(zhǔn)直物鏡 高精度5維樣品調(diào)節(jié)夾持器: • 增加自準(zhǔn)直儀的傾斜控制和調(diào)整功能軟件: 波前采集和顯示: • 或相對式測量 • 減少背景光線 • 波前、邊緣以及相位的2D或3D的實(shí)時(shí)顯示 • 峰谷值和RMS值的實(shí)時(shí)顯示 • 光強(qiáng)顯示 • 傾斜度顯示 • 實(shí)時(shí)照相機(jī)成像 • 樣品調(diào)整工具(傾斜及位置調(diào)整) • 傾斜和散焦的實(shí)時(shí)修正 波前分析: • 實(shí)時(shí)澤爾尼克分析 • 被測、定制和剩余波前的實(shí)時(shí)顯示(2D和3D) • 橫截面的實(shí)時(shí)顯示 • Zernike 系數(shù)的數(shù)字和圖形顯示 • 系數(shù)的自由選擇,包括在分析過程中的輸入和刪除 • 導(dǎo)入波前理論數(shù)據(jù)與測量數(shù)據(jù)對比 • 不同波前和系數(shù)的顯示 測量數(shù)據(jù)儲存類型: • 傾斜數(shù)據(jù) • 波前數(shù)據(jù) • Zernike 系數(shù)數(shù)據(jù) • 完備的測量報(bào)告包括:測量環(huán)境、測量結(jié)果的圖形和數(shù)字顯示以及Zernike 系數(shù)列表其他: • 具體的測量設(shè)置可被分別儲存于不同文件并重新導(dǎo)入 • 被測樣品相關(guān)信息存入數(shù)據(jù)文件 • 幀數(shù) > 5Hz (取決于照相機(jī)幀數(shù)) • 單位:μm 或λ