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參 考 價(jià) | 面議 |
產(chǎn)品型號(hào)BOS-NGH
品 牌其他品牌
廠(chǎng)商性質(zhì)生產(chǎn)商
所 在 地廈門(mén)市
聯(lián)系方式:蘇工查看聯(lián)系方式
更新時(shí)間:2023-12-31 09:08:27瀏覽次數(shù):743次
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測(cè)試范圍 | 1-10000nm(與樣品有關(guān)) |
新BOS-NGH是我公司蕞心推出的基于動(dòng)態(tài)光散射原理的納米粒度儀。它采用高速數(shù)字相關(guān)器和專(zhuān)業(yè)的高性能光電倍增管作為核心器件,具有快速、高分辨率、重復(fù)及準(zhǔn)確等特點(diǎn),是納米顆粒粒度測(cè)定的手選產(chǎn)品。
主要性能特點(diǎn):
*的測(cè)試原理:光相關(guān)納米粒度儀采用動(dòng)態(tài)光散射原理和光子相關(guān)光譜技術(shù),根據(jù)顆粒在液體中的布朗運(yùn)動(dòng)的速度測(cè)定顆粒大小。小顆粒布朗運(yùn)動(dòng)速度快,大顆粒布朗運(yùn)動(dòng)速度慢,激光照射這些顆粒,不同大小的顆粒將使散射光發(fā)生快慢不同的漲落起伏。光子相關(guān)光譜法就根據(jù)特定方向的光子漲落起伏分析其顆粒大小。因此本儀器具有原理*、精度及高的特點(diǎn),從而保證了測(cè)試結(jié)果的真實(shí)性和有效性;是納米激顆粒粒度測(cè)定的手選儀器。
高靈敏度與信噪比:本儀器的探測(cè)器采用專(zhuān)業(yè)級(jí)高性能光電倍增管(PMT),對(duì)光子信號(hào)具有及高的靈敏度和信噪比,從而保證了測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確度;
抄強(qiáng)的運(yùn)算功能:使用PCS技術(shù)測(cè)定納米級(jí)顆粒大小,必須能夠分辨納秒級(jí)信號(hào)起伏。本儀器的核心部件采用專(zhuān)用集成電路ASIC研制的高速光子相關(guān)器,具有識(shí)別6ns的及高分辨能力和及高的信號(hào)處理速度,可快速實(shí)時(shí)的采集光子數(shù)并計(jì)算相關(guān)運(yùn)算,我測(cè)試尊確定奠定基礎(chǔ)。
雙波長(zhǎng)激光器:讀家采用雙波長(zhǎng)(λ=454nm、λ=532nm)激光器搭建而成的光路系統(tǒng),相關(guān)譜探測(cè)系統(tǒng)不僅體積小,而且具有很強(qiáng)的抗*力,從而保證了測(cè)試的穩(wěn)定性;某些樣品具有吸光屬性,傳統(tǒng)單一波長(zhǎng)激光器對(duì)這些樣品無(wú)法檢測(cè),我司蕞心NKT-N9H搭載的雙波長(zhǎng)激光器能有效檢測(cè)此類(lèi)樣品。
高精度溫控系統(tǒng):樣品池溫控系統(tǒng)和激光器溫控系統(tǒng)精度高達(dá)±0.1℃,使被測(cè)樣品和激光器光源在整個(gè)測(cè)試過(guò)程中都處于恒溫狀態(tài),避免溫度變化對(duì)不測(cè)試結(jié)果的影響,確保測(cè)試的準(zhǔn)確性和重復(fù)性;
抄強(qiáng)功能的分析軟件:分析軟件中反演算法采用幗際標(biāo)準(zhǔn)推薦的累計(jì)量法以及目前比較通用的非負(fù)蕞小二乘法(NNLS)和Contin等多種算法,其測(cè)試結(jié)果與幗計(jì)荃威的同類(lèi)產(chǎn)品具有很好的一致性;
測(cè)試精準(zhǔn)并穩(wěn)定:高性能的硬件和幗際標(biāo)準(zhǔn)化的反演算法的玩美結(jié)合,造就了Nano90測(cè)試結(jié)果的精準(zhǔn)與重復(fù),其測(cè)試準(zhǔn)確度和重復(fù)性等指標(biāo)均高于幗際標(biāo)準(zhǔn)要求。
全新散熱系統(tǒng):新NG進(jìn)行了雙氣流設(shè)計(jì),熱氣流直接排出儀器外殼,倍增管、激光器、相關(guān)器等重要部件不再受熱氣流的影響,測(cè)量數(shù)據(jù)更加準(zhǔn)確、更穩(wěn)定,同時(shí)大大延長(zhǎng)了這些重要部件的使用壽命。
自動(dòng)感應(yīng)滑門(mén):新NG加裝了比色皿門(mén)自動(dòng)開(kāi)啟、閉合功能,當(dāng)手靠近儀器時(shí)滑門(mén)會(huì)自動(dòng)打開(kāi)方便測(cè)試人員拿取比色皿,當(dāng)手遠(yuǎn)離儀器時(shí)滑門(mén)會(huì)自動(dòng)閉合。
此款納米粒度儀已經(jīng)達(dá)到國(guó)外納米粒度儀的測(cè)試水平!
BOS-NG光相關(guān)納米粒度儀技術(shù)參數(shù)及詳細(xì)配置
規(guī)格型號(hào) | BOS-NGH |
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn) | GB/T 29022-2012/ISO 22412:2008 |
測(cè)試范圍 | 1-10000nm(與樣品有關(guān)) |
濃度范圍 | 0.1mg/L-100mg/L |
準(zhǔn)確度誤差 | <1%(幗家標(biāo)準(zhǔn)樣品平均粒徑) |
重復(fù)性誤差 | <1%(幗家標(biāo)準(zhǔn)樣品平均粒徑) |
激光 | λ=405nm,λ=532nm(讀家雙波長(zhǎng)激光器) |
探測(cè)器 | 光電倍增管(PMT) |
散射角 | 90° |
樣品池 | 10mm*10mm , 4ml(帶溫控保護(hù)) |
溫度范圍 | 8-45℃(溫度經(jīng)確到0.1℃) |
測(cè)試速度 | <1Min/次(不含樣品分散時(shí)間) |
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