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光譜共焦位移傳感器 詳細摘要： 光譜共焦式位移傳感器產品主要特點:高分辨率、高精度、高線性度適用于各種樣品
產品型號： 所在地： 更新時間：2021-07-23 參考價： 面議 在線留言 -
CCS Optima+光電控制器 詳細摘要： CCSOptima+型控制器適配STIL光譜共焦傳感器的點傳感器，點傳感器測量位于光軸上的點的高度，也可用來測量透明樣品的厚度
產品型號：CCS Optima+ 所在地： 更新時間：2021-07-23 參考價： 面議 在線留言 -
CCS Prima光電控制器 詳細摘要： CCSPrima型控制器適配STIL光譜共焦傳感器的點傳感器，點傳感器測量位于光軸上的點的高度，也可用來測量透明樣品的厚度
產品型號：CCS Prima 所在地： 更新時間：2021-07-23 參考價： 面議 在線留言 -
D-300 臺階儀/探針式輪廓儀 詳細摘要： 探針式輪廓儀/臺階儀/Alpha-StepD-300StylusProfilerAlpha-StepD-300探針式輪廓儀/臺階儀能夠測量從幾納米到1200微米...
產品型號：Alpha-Step D-300 所在地： 更新時間：2021-07-23 參考價： 面議 在線留言 -
D-600 臺階儀/探針式輪廓儀 詳細摘要： 探針式輪廓儀/臺階儀/Alpha-StepD-600StylusProfilerAlpha-StepD-600探針式輪廓儀能夠測量從幾納米到1200微米的臺階高...
產品型號：Alpha-Step D-600 所在地： 更新時間：2021-07-23 參考價： 面議 在線留言 -
P-17 臺階儀 / 探針式輪廓儀 詳細摘要： 探針式輪廓儀/臺階儀/P-17StylusProfilerP-17支持從幾納米到一毫米的臺階高度測量，適用于生產和研發(fā)環(huán)境
產品型號：P-17 所在地： 更新時間：2021-07-23 參考價： 面議 在線留言 -
P-7 臺階儀/探針式輪廓儀 詳細摘要： 探針式輪廓儀/臺階儀/P-7StylusProfilerP-7支持從幾納米到一毫米的臺階高度測量，適用于生產和研發(fā)環(huán)境
產品型號：P-7 所在地： 更新時間：2021-07-23 參考價： 面議 在線留言 -
D-500 臺階儀/ 探針式輪廓儀 詳細摘要： 探針式輪廓儀/臺階儀/Alpha-StepD-500StylusProfilerAlpha-StepD-500探針式輪廓儀能夠測量從幾納米到1200微米的2D臺...
產品型號：Alpha-Step D-500 所在地： 更新時間：2021-07-23 參考價： 面議 在線留言 -
iMicro納米壓痕儀 詳細摘要： iMicro納米壓痕儀可輕松測量硬涂層，薄膜和少量材料
產品型號：iMicro 所在地： 更新時間：2021-07-23 參考價： 面議 在線留言 -
iNano®納米壓痕儀 詳細摘要： iNano®納米壓痕儀可輕松測量薄膜、涂層和少量材料
產品型號：iNano 所在地： 更新時間：2021-07-23 參考價： 面議 在線留言 -
NanoFlip納米壓痕儀 詳細摘要： NanoFlip納米壓痕儀可在真空和常壓條件下對硬度、模量、屈服強度、剛度和其他納米力學測試進行高精確度的測量
產品型號：NanoFlip 所在地： 更新時間：2021-07-23 參考價： 面議 在線留言 -
T150 UTM拉伸測量儀 詳細摘要： 產品詳細主要應用提供選項相關產品產品描述T150UTM具有一個電磁傳感器，可用作稱重傳感器，能在很大的應變范圍內提供高靈敏度測量
產品型號：T150 UTM 所在地： 更新時間：2021-07-23 參考價： 面議 在線留言 -
Nano Indenter® G200納米級機械測試儀器 詳細摘要： NanoIndenter®G200系統(tǒng)專為各種材料的表征和開發(fā)過程中進行納米級測量而設計
產品型號：Nano Indenter® G200 所在地： 更新時間：2021-07-23 參考價： 面議 在線留言