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詳細(xì)介紹
快速檢測(cè)，快速響應(yīng)
徠卡DM3 XL正置顯微鏡 DM3 XL
在微電子和半導(dǎo)體行業(yè)中，檢驗(yàn)、過(guò)程控制或缺陷和故障分析的速度至關(guān)重要。檢測(cè)缺陷的速度越快，您做出響應(yīng)的速度也就越快。
視場(chǎng)寬敞 30%
DM3 XL 檢驗(yàn)系統(tǒng)憑借大視場(chǎng)幫助您的團(tuán)隊(duì)更快地識(shí)別缺陷，提高您的收益率。充分利用*的宏觀物鏡，視場(chǎng)寬敞 30%。
高效檢驗(yàn) " 樣品
檢驗(yàn)、過(guò)程控制或缺陷和故障分析全部與速度相關(guān)：任何缺陷
都有可能使生產(chǎn)陷入癱瘓；您需要一臺(tái)顯微鏡來(lái)幫助團(tuán)隊(duì)盡快
且盡可能準(zhǔn)確地檢測(cè)缺陷。
DM3 XL 檢驗(yàn)系統(tǒng)助您節(jié)省檢驗(yàn)時(shí)間。充分利用*的宏觀物鏡，
視場(chǎng)寬敞 30%。DM3 XL 為中等預(yù)算用戶提供品質(zhì)，因?yàn)槟?/span>
沒(méi)有時(shí)間去妥協(xié)。
光學(xué)“高手”
DM3 XL 讓您以實(shí)惠的價(jià)格享受到的光學(xué)性能。
采用斜射照明檢驗(yàn)側(cè)面、邊緣或碎屑：以簡(jiǎn)單有效的方式從不同角度照亮樣品，從而實(shí)現(xiàn)各種形貌的可視化。
借助深暗場(chǎng)對(duì)比檢測(cè)樣品較低層中的微小劃痕或小顆粒。
您將對(duì)明顯提高的靈敏度和分辨率感到震驚。
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