鍍層分析儀 臺式鍍層測厚儀圖片

曉INSIGHT鍍層分析儀使用微聚焦X射線管將X射線源的大部分射線收集并匯聚成微束斑，照射在樣品位置，從而獲得良好的空間分辨率及很強(qiáng)的熒光信號，通過能譜探頭及后續(xù)的數(shù)據(jù)處理器等采集、處理并評價樣品被輻照后產(chǎn)生的熒光信號，得出樣品的成分信息。它可實(shí)現(xiàn)更復(fù)雜應(yīng)用的快速測量和精準(zhǔn)分析，是對不均勻或形狀不規(guī)則的未知樣品以及微觀物體進(jìn)行元素分析的理想方法。