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SunScan專業(yè)版冠層分析儀是一款簡便的測量和分析冠層中入射和透射光合有效輻射(PAR)的系統(tǒng),提供了關(guān)于影響田間作物生長的限制因素的有價值的信息,如葉面積指數(shù)(LAI)。SunScan冠層分析系統(tǒng)不需要等待特殊的天氣條件進(jìn)行使用,可以在大多數(shù)光照條件下進(jìn)行測量工作(在接近中午的時候)。專業(yè)版比標(biāo)準(zhǔn)版配置上增加了BF5日照傳感器,用來參照測量直接和散射的入射光,提高測量精度。
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