Duke PD-200 SURF-CAL 尺度標準微粒圖片

DukePD-200SURF-CAL尺度標準微粒NIST*溯源尺度標準，用于需要高度視覺反差的尺度標*和參考應用領域。SUR-CAL為各種硅晶片的表面性狀的檢測和標*提供了便利的工具。產品的粒徑復合儀器廠家所需的各種規(guī)格。