CRAIC Elixir™光譜儀

痕跡證據(jù)分析解決方案
玻璃折射率、拉曼光譜學(xué)、紫外-可見-近紅外光、熒光、偏振顯微鏡學(xué)和顯微光譜學(xué)！
顯微鏡學(xué)、光譜學(xué)和玻璃折射率測(cè)量都被整合到了一個(gè)為得到痕跡證據(jù)分析的精細(xì)工具上。下面介紹來(lái)自CRAIC科技的Elixir™。該系統(tǒng)為痕跡證據(jù)分析設(shè)計(jì)，實(shí)現(xiàn)了的模塊化，把多種類型的顯微鏡學(xué)、光譜學(xué)和的數(shù)據(jù)分析囊括在一個(gè)系統(tǒng)里。CRAIC同時(shí)還提供拉曼顯微光譜學(xué)、玻璃折射率測(cè)量、紫外-可見-近紅外光顯微成像和顯微光譜學(xué)、熒光顯微鏡學(xué)和顯微光譜學(xué)、偏振成像和顯微光譜學(xué)這些技術(shù)。Elixir™擁有儀器設(shè)計(jì)的特點(diǎn)和精巧的軟件，包括的圖像技術(shù)和光譜分析程序。我們認(rèn)為CRAIC是現(xiàn)在痕跡證據(jù)分析儀器。Elixir™有如下功能：
?玻璃折射率測(cè)量
?紫外-可見-近紅外光顯微光譜學(xué)
?拉曼顯微光譜學(xué)
?紫外-可見-近紅外光顯微鏡學(xué)
?偏振成像和顯微光譜學(xué)
?熒光成像和顯微光譜學(xué)
?全模塊化設(shè)計(jì)，升級(jí)容易
?的光譜學(xué)、顯微鏡學(xué)和軟件
CRAIC Elixir™配置了優(yōu)秀的光學(xué)器件、質(zhì)量的分光光度計(jì)、高分辨率數(shù)字成像系統(tǒng)和前沿的軟件……所有這些都集中在我們CRAIC™光學(xué)多路轉(zhuǎn)換器上的Lightswitch里。Elixir™采用了的Lightswitch™技術(shù)，保留了CRAIC儀器聞名的易用性特點(diǎn)，同時(shí)提供了比市場(chǎng)上任何其他儀器都要得多的許多功能。
CRAIC Elixir™ 顯微分光光度計(jì)入門級(jí)的價(jià)格非常具有吸引力，它利用測(cè)試過(guò)的技術(shù)測(cè)量顯微樣品區(qū)域的透射比、拉曼光譜、反射率、偏振和熒光光譜。獲得顯微光譜™的同時(shí)，可以用高分辨率數(shù)字成像系統(tǒng)或者通過(guò)目鏡觀察樣品的圖像。由于它不用移動(dòng)樣品，所以可以執(zhí)行附加檢測(cè)，例如進(jìn)行玻璃折射率測(cè)量、測(cè)微比色法、偏振和熒光顯微光譜學(xué)和顯微鏡學(xué)的檢測(cè)。Elixir™價(jià)格實(shí)惠，但能測(cè)出痕跡證據(jù)分析的高質(zhì)量結(jié)果。
紫外-可見-近紅外光顯微光譜學(xué)
出自顯微光譜學(xué)之手……
這是一個(gè)整合的顯微光譜學(xué)裝置，它同時(shí)描述樣品光圈和樣品的直接圖像，而這些樣品是用來(lái)迅速準(zhǔn)確測(cè)量痕跡證據(jù)的。308 PV™ 顯微鏡分光光度計(jì)甚至讓您能夠測(cè)量次微米級(jí)樣品的透射比、反射率、偏振和熒光光譜，但依然能夠得到高分辨率的彩色圖像，或者升級(jí)到508 PV™，這樣您就能得到更多的功能。
CRAIC科技也是NIST可追蹤顯微分光光度計(jì)標(biāo)準(zhǔn)認(rèn)可的來(lái)源。
拉曼顯微光譜學(xué)
靈活的拉曼顯微光譜學(xué)……
CRAIC 阿波羅™拉曼分光計(jì)模塊有拉曼、共振拉曼和其他類型顯微樣品測(cè)量的特點(diǎn)。模塊包括激光器、拉曼分光計(jì)和界面光學(xué)器件，這些部件讓您能夠采集到痕跡證據(jù)高質(zhì)量的拉曼光譜。
設(shè)備提供大量的激光和優(yōu)秀的光譜結(jié)果展示，允許我們幫助您選擇您工作配置
玻璃折射率測(cè)量
精細(xì)的玻璃折射率測(cè)量……
與CRAIC Elixir™一起提供的還有rIQ™，rIQ™是測(cè)量玻璃折射率的智能解決方案。這個(gè)的系統(tǒng)能夠同時(shí)自動(dòng)測(cè)量多個(gè)片段的玻璃折射率。精細(xì)的圖像分析軟件使得CRAIC的玻璃折射率測(cè)量變得簡(jiǎn)單，但非常。
紫外-可見-近紅外光顯微鏡學(xué)
出眾的成像質(zhì)量……
CRAIC Elixir™配備有高質(zhì)量顯微鏡光學(xué)器件和數(shù)字成像技術(shù)。整合了我們精細(xì)的軟件后，您可以用紫外-可見-近紅外光傳播、反射、偏振和熒光的光譜來(lái)輕松快速獲得實(shí)時(shí)圖像。
熒光顯微光譜學(xué)
靈敏的熒光光譜學(xué)和成像……
CRAIC Elixir™可以裝配用來(lái)獲取熒光光譜和痕跡證據(jù)樣品的圖像，即使是最小的樣品也可以。 CRAIC Elixir™激發(fā)的波長(zhǎng)有很多種，并且它帶有敏感的探測(cè)器，這使得它可以輕松獲得準(zhǔn)確的熒光圖像和顯微光譜學(xué)數(shù)據(jù)。

偏振顯微光譜學(xué)
多個(gè)偏振狀態(tài)的圖像和光譜學(xué)數(shù)據(jù)……
CRAIC Elixir™以裝配用來(lái)獲取偏振光譜和痕跡證據(jù)樣品的圖像，即使是最小的樣品也可以。該精細(xì)的系統(tǒng)可以輕松快速地獲取雙折射樣品的光譜和圖像。
用途
?包括纖維、繪畫、玻璃等痕跡證據(jù)
?法庭藥物化學(xué)
?爆炸物
?可疑文件
CRAIC Elixir™顯微分光光度計(jì)可以獲得microspectra™和吸光率、反射率、拉曼、偏振和熒光性的圖像；與之提供的還有用肉眼觀看的DirecVu™和一個(gè)高分辨率數(shù)字彩色成像系統(tǒng)。

提供的主要特點(diǎn)
?玻璃折射率測(cè)量
?紫外-可見-近紅外光透射比顯微光譜學(xué)和成像
?紫外-可見-近紅外光反射率顯微光譜學(xué)和成像
?紫外-可見-近紅外光熒光性顯微光譜學(xué)和成像
?紫外-可見-近紅外光偏振光顯微光譜學(xué)和成像
?拉曼顯微光譜學(xué)
?微米級(jí)顯微光譜學(xué)，校準(zhǔn)，多種開口
?復(fù)雜的光譜分析軟件
?NIST可追蹤光譜學(xué)標(biāo)準(zhǔn)
?目鏡和數(shù)字成像都能得到出眾的圖像
?操作、維護(hù)簡(jiǎn)單