6430能以超過2000個讀數(shù)/秒的速度 讀至其內(nèi)存緩沖器。IEEE-488總線輸出能 每秒發(fā)送達75個源/測量讀數(shù)至外部計算 機控制器，包括通過/失效指示。
6430能提供達2.2W的4象限源， 以及低至亞fA和微伏電平的測量 靈敏度。在高達20V，它能測量從 1pA量程（僅0.4fA峰峰值噪聲）至 100mA量程的電流。可提供200mV至 200V的電壓范圍。電流和電壓量程 設置定義了源或阱電壓或電流的 值。
典型應用：
半導體測量
基于FET元件中的柵 極漏電或溝道漏電會在 MOSFET、FET、模擬開關和許 多其它電路中產(chǎn)生誤差。通 過允許研究人員測量極低電 平的電流和電壓，6430能幫 助他們了解這些元件的設計 局限以及研究替代器件的結 構或材料。
SET研究
6430具有的優(yōu)秀低電流測量能力（<0.4fA峰峰值）使其對于單電子晶體管 （SET）和量子點研究非常有用。使用類似于鎖定的技術，6430能以1aA靈敏度測量 電流（10–18A=6電子/秒）。
測量行業(yè)的噪聲和漂移
下圖的數(shù)據(jù)表明6430在5小時期間內(nèi)穩(wěn)定性非常突出，而且短期的低噪聲性能 優(yōu)秀。使用6430的AUTOFILTER以5秒上升時間在1pA量程上實現(xiàn)微弱信號采集。插 圖中的細節(jié)是濾波信號的截圖，顯示了6430型在最開始的100秒期間的低噪聲性能 （僅200aA峰峰值）。在溫度變化約1°C的實驗室環(huán)境下提取數(shù)據(jù)，其中6430的IN/ OUT HI和SENSE引線接防護罩。
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