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高精度實時三維分析FIB-SEM三束系統(tǒng) NX9000

參考價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 公司名稱柯岷國際貿(mào)易(上海)有限公司
  • 品       牌
  • 型       號
  • 所  在  地上海市
  • 廠商性質(zhì)其他
  • 更新時間2024/4/26 15:41:33
  • 訪問次數(shù)125
產(chǎn)品標簽:

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總部:益弘儀器公司于1976年成立,代理電子顯微鏡已有40多年,經(jīng)驗豐富、服務(wù)口碑頗佳。公司員工逾100位,電子顯微鏡部門維修服務(wù)人員超過40員,其中中國臺灣20多位,中國大陸20多位,如附表一。中國大陸柯岷國際貿(mào)易(上海)有限公司成立于2002年四月。 HHT日立柯岷公司負責(zé)中國區(qū)域的VIP客戶(例如:中芯國際,臺積電,英特爾集團、美光集團、三星集團,Hynix集團,日立集團,長江存儲武漢新芯集團,晶合,睿力,格芯半導(dǎo)體(GLOBALFOUNDRIES);日月光集團,富士通集團,江蘇長電科技;LG集團,友達集團,群創(chuàng)集團,三星集團,信利集團;廣達集團,富士康集團,華碩集團,滬士電子,欣興集團,健鼎集團,南亞集團……),應(yīng)廣大的臺資外資,半導(dǎo)體,光電企業(yè)與電子相關(guān)企業(yè)在中國大陸投產(chǎn)使用電子顯微鏡售后服務(wù)迫切需求,2002年Hitachi特別委由中國臺灣益弘儀器公司在中國名為柯岷公司負責(zé)該區(qū)域與售后服務(wù)。十九年多來與臺資、外資電子,光電相關(guān)企業(yè)使用Hitachi電子顯微鏡客戶與柯岷公司建立良好的互動關(guān)系,客戶對柯岷國際貿(mào)易(上海)有限公司負責(zé)Hitachi電子顯微鏡售后服務(wù)維修保養(yǎng)十分滿意。目前柯岷公司注冊于上海自由貿(mào)易區(qū),總部設(shè)在蘇州昆山地區(qū)?服務(wù)人員計有4位臺籍常駐干部,每位資歷都超過20年維修服務(wù)工作經(jīng)驗。十幾位本國服務(wù)工程師維修服務(wù)團隊陣容堅強,且均屬專業(yè)電子顯微鏡項目。
研磨機(研磨儀)
通過自動重復(fù)使用FIB制備截面和進行SEM觀察,采集一系列連續(xù)截面圖像,并重構(gòu)特定微區(qū)的三維結(jié)構(gòu)。采用的鏡筒布局,從材料、設(shè)備到生物組織——在寬廣的領(lǐng)域范圍內(nèi)實現(xiàn)傳統(tǒng)機型難以企及的高精度三維結(jié)構(gòu)分析。
高精度實時三維分析FIB-SEM三束系統(tǒng) NX9000 產(chǎn)品信息

 SEM鏡筒與FIB鏡筒互成直角,形成三維結(jié)構(gòu)分析的鏡筒布局

 融合高亮度冷場發(fā)射電子槍與高靈敏度檢測系統(tǒng),從磁性材料到生物組織——支持分析各種樣品

 通過選配口碑良好的Micro-sampling®系統(tǒng)*和Triple Beam®系統(tǒng)*,可支持制作高品質(zhì)TEM及原子探針樣品


◆ 垂直入射截面SEM觀察可忠實反映原始樣品結(jié)構(gòu)

SEM鏡筒與FIB鏡筒互成直角,實現(xiàn)FIB加工截面的垂直入射SEM觀察。

舊型FIB-SEM采用傾斜截面觀察方式,必定導(dǎo)致截面SEM圖像變形及采集連續(xù)圖像時偏離視野,直角型結(jié)構(gòu)可避免出現(xiàn)此類問題。

通過穩(wěn)定獲得忠實反映原始結(jié)構(gòu)的圖像,實現(xiàn)高精度三維結(jié)構(gòu)分析。

同時,F(xiàn)IB加工截面(SEM觀察截面)與樣品表面平行,有利于與光學(xué)顯微鏡圖像等數(shù)據(jù)建立鏈接。

樣品:小白鼠腦神經(jīng)細胞

樣品來源:自然科學(xué)研究機構(gòu)/生理學(xué)研究所 窪田芳之 先生


◆ Cut&See/3D-EDS*1/3D-EBSD*1可支持各種材料

Cut&See

從生物組織及半導(dǎo)體到鋼鐵及鎳等磁性材料——支持低加速電壓下的高分辨率和高對比度觀察。

FIB加工與SEM觀察之間切換時,不需要重新設(shè)定條件,可高效率的采集截面的連續(xù)圖像。


提取截面圖像?三維重構(gòu)圖像

樣品:鎳

SEM加速電壓:1 kV

加工間距:20 nm

重復(fù)次數(shù):675次

3D-EDS*1

不僅支持截面SEM圖像,也支持連續(xù)采集一系列截面的元素分布圖像。

通過選配硅漂移式大立體角EDS檢測器*1,可縮短測定時間以及可在低加速電壓下采集元素分布圖像。


樣品:燃料電池電極

SEM加速電壓:5 kV

加工間距:100 nm

重復(fù)次數(shù):212次

樣品來源:東京大學(xué) 生產(chǎn)技術(shù)研究所 鹿園直毅 教授

3D-EBSD*1

以的方式配置SEM/FIB/EBSD檢測器*1,在FIB加工與EBSD分析之間無需移動樣品臺即可實現(xiàn)3D-EBSD。因為無需移動樣品臺,所以可大幅提高三維晶體取向分析的精度和效率。


樣品:鎳

SEM加速電壓:20 kV

加工間距:150 nm

重復(fù)次數(shù):150次

*1:選配


*2:根據(jù)樣品座不同,行程不同

關(guān)鍵詞:顯微鏡
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