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鍍層測厚儀FISCHER XDL® 210

參考價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱西安佰科達(dá)儀器設(shè)備有限公司
  • 品       牌
  • 型       號
  • 所  在  地西安市
  • 廠商性質(zhì)其他
  • 更新時間2023/12/7 19:02:23
  • 訪問次數(shù)204
產(chǎn)品標(biāo)簽:

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西安佰科達(dá)儀器設(shè)備有限公司(Xi’an BaiKeDa Instrument&Equipment Co., Ltd. )長期致力于X熒光光譜、直讀光譜、金相顯微鏡、硬度計、試驗機等材料理化分析和力學(xué)性能檢測設(shè)備的銷售和技術(shù)推廣,和Thermo Fisher、Bruker、Anton Paar、Olympus、Fischer、Mahr,ARUN等多家分析儀器公司進(jìn)行深入廣泛的合作,為西北地區(qū)客戶提供專業(yè)的材料檢測儀器和整體解決方案??蛻羧后w涉及:航天、航空、石化、電力、壓力容器、機械加工、汽車制造、廢品回收、鋼鐵及有色金屬冶煉、科研院所、檢測機構(gòu)、高校、地礦勘測,土壤中重金屬評估等領(lǐng)域。 公司提供的產(chǎn)品有: 臺式、立式、便攜式火花光電直讀光譜儀; 臺式、手持式土壤、礦石、合金分析儀; 碳硫分析儀,氧氮氫分析儀、定氮儀; 洛氏、布氏、維氏、顯微維氏等硬度計; 臺式、便攜式金相顯微鏡; 測厚、探傷儀等現(xiàn)場無損檢測儀器; 殘余應(yīng)力分析儀及應(yīng)力消除設(shè)備; 、沖擊、扭轉(zhuǎn)、疲勞等力學(xué)試驗機; 粗糙度、納米壓痕、劃痕、摩擦磨損儀等表面力學(xué)性能測試儀器; 高低溫、鹽霧等環(huán)境試驗設(shè)備; 投影儀、三維掃描等測量儀器。 公司擁有經(jīng)驗豐富、技術(shù)的專家隊伍、業(yè)務(wù)嫻熟的技術(shù)工程師和訓(xùn)練有素的銷售人員,以客戶需求為出發(fā)點,注重產(chǎn)品技術(shù)和質(zhì)量,為客戶提供的產(chǎn)品和以及最及時、周到的售前、售后服務(wù)。 無論現(xiàn)在還是將來,西安佰科達(dá)永遠(yuǎn)是您和信賴的伙伴,您的需要就是我們的工作!
元素光譜儀
FISCHERSCOPEX-RAYXDL210不僅僅是一臺鍍層測厚儀,它還是一臺金屬成分分析儀菲希爾x-ray射線鍍層測厚儀FISCHERSCOPEX-RAYXDL210X射線熒光光譜儀,采用手動或自動方式,測量和分析印刷線路板、防護(hù)及裝飾性鍍層及大規(guī)模生產(chǎn)的零部件上的鍍層
鍍層測厚儀FISCHER XDL® 210 產(chǎn)品信息
FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 210不僅僅是一臺鍍層測厚儀,它還是一臺金屬成分分析儀
 
菲希爾x-ray射線鍍層測厚儀FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 210射線熒光光譜儀,采用手動或自動方式,測量和分析印刷線路板、防護(hù)及裝飾性鍍層
及大規(guī)模生產(chǎn)的零部件上的鍍層。
簡介
FISCHERSCOPE®-X-RAY XDL®是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型射線光譜儀。它是從大眾認(rèn)可的FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B 型儀器上發(fā)展而來的。與上一代相類,它尤其適合無損測量鍍層厚度及材料分析,同時還能全自動測量大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板。比例接收器能實現(xiàn)高計數(shù)率,這樣就可以進(jìn)行高精度測量。由于采用了Fischer 基本參數(shù)法,無論是鍍層系統(tǒng)還是固體和液體樣品,都能在沒有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進(jìn)行分析和測量。最多可同時測量從氯(17)到鈾(92)中的24 種元素。
XDL 射線光譜儀有著良好的長期穩(wěn)定性,這樣就不需要經(jīng)常校準(zhǔn)儀器。
XDL 系列儀器特別適用于客戶經(jīng)行質(zhì)量控制、進(jìn)料檢驗和生產(chǎn)流程監(jiān)控。
菲希爾x-ray射線鍍層測厚儀典型的應(yīng)用領(lǐng)域有:
?測量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍部件
?測量薄鍍層,例如裝飾鉻
?測量電子工業(yè)或半導(dǎo)體工業(yè)中的功能性鍍層
?全自動測量,如測量印刷線路板
?分析電鍍?nèi)芤?/span>
菲希爾x-ray射線鍍層測厚儀設(shè)計理念FISCHERSCOPE X-RAY XDL 設(shè)計為界面友好的臺式測量儀器系列。我們會根據(jù)樣品平臺的運行模式以及固定或者可調(diào)節(jié)的軸系統(tǒng)來設(shè)定不同型號的儀器以滿足實際應(yīng)用的需求。
XDL210:平面樣品平臺,固定的軸系統(tǒng)
高分辨率的彩色視頻攝像頭具備強大的放大功能,可以精確定位測量位置。通過視頻窗口,還可以實時觀察測量過程和進(jìn)度。
配有馬達(dá)驅(qū)動X-Y 樣品平臺的儀器還配備了激光點,可以輔助定位并快速對準(zhǔn)測量位置。
測量箱底部的開槽專為大而扁平的樣品設(shè)計,可以測量比測量箱更長和更寬的樣品。例如大型的線路板。
所有的操作,測量數(shù)據(jù)的計算,以及測量數(shù)據(jù)報表的清晰顯示都是通過強大而界面友好的WinFTM®軟件在電腦上完成的。
XDL 型光譜儀是安全而保護(hù)全面的測量儀器,型式許可符合德國“DeutscheRöntgenverordnung-RöV”法規(guī)規(guī)定。
能量色散射線熒光光譜儀 (EDXRF) 用來測量薄鍍層和微小結(jié)構(gòu),分析合金和微量組分。
元素范圍最多同時測量從氯(Cl 17)到鈾(U 92)之間的24 種元素
測量門向上開啟  測量方向從上到下
射線源帶鈹窗口的鎢管
三種高壓: 30 kV,40 kV,50 kV,可調(diào)整
孔徑(準(zhǔn)直器) Ø 0.3 mm (可選:圓形Ø 0.1 mm; Ø 0.2 mm;長方形0.3 mm x 0.05 mm)
測量點:取決于測量距離及使用的準(zhǔn)直器大?。粚嶋H的測量點大小與視頻窗口中顯示的一致。
最小的測量點:大小約Ø 0.16mm.
測量距離,如測量腔體內(nèi)部
0 ~ 80 mm,未校準(zhǔn)范圍,使用保護(hù)的DCM 功能
0 ~ 20 mm,已校準(zhǔn)范圍,使用保護(hù)的DCM 功能
射線探測:射線接收器比例接收器
樣品定位視頻顯微鏡
高分辨 CCD 彩色攝像頭,用于查看測量位置
手動調(diào)焦或自動聚焦
十字線刻度和測量點大小經(jīng)過校準(zhǔn)
測量區(qū)域照明亮度可調(diào)
激光點用于精確定位樣品
放大倍數(shù) 20x ~ 180x (光學(xué)變焦: 20x ~ 45x; 數(shù)字變焦: 1x, 2x, 3x, 4x)
樣品臺 XDL 210
可用樣品放置區(qū)域 463 x 500 mm
樣品重量 20 kg
樣品高度 155/90/25 mm
激光定位點 -
電氣參數(shù)
電壓,頻率 AC 115 V  AC 230 V 50 / 60 Hz
功率 120 W (不包括計算機
保護(hù)等級 IP40
儀器規(guī)格
外部尺寸[mm]570 x 760 x 650
重量 XDL21090 kgXDL22095 kg;XDL230105 kgXDL240120 kg
內(nèi)部測量室尺寸[mm]: 460 x 495 (參考“樣品高度”部分的說明
關(guān)鍵詞:測厚儀 視頻顯微鏡
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