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X射線衍射儀 Ultima IV系列組合式多功能

參考價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 公司名稱上海力晶科學儀器有限公司
  • 品       牌
  • 型       號
  • 所  在  地上海市
  • 廠商性質(zhì)其他
  • 更新時間2023/11/23 17:19:38
  • 訪問次數(shù)256
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  上海力晶科學儀器有限公司成立于2006年,是一家專業(yè)經(jīng)營實驗室檢測分析儀器的企業(yè)。公司經(jīng)營的產(chǎn)品涵蓋光譜儀器、物性測試儀器、熱分析儀器、色譜儀器、電化學儀器和環(huán)境可靠性設備等等,涉及材料、化工、鋰電、新能源、制藥、食品等眾多制造行業(yè),以及高校、研究所等科研機構的實驗室。 上海力晶科學儀器有限公司是美國賽默飛世爾(ThermoFisher)公司哈克HAAKE流變儀&粘度計及尼高力Nicolet紅外光譜儀部分產(chǎn)品的區(qū)域簽約總代理,也是日本MicroSupport公司微區(qū)取樣設備的中國簽約代理商,主要經(jīng)營產(chǎn)品還包括德國耐馳(NETZSCH)公司熱分析儀器系列;日本理學(Rigaku)公司的X射線衍射儀;瑞典Elastocon公司的橡膠物性測試儀系列產(chǎn)品;日本三菱化學(Mitsubishi)的水分測定儀;英國ascott公司的鹽霧腐蝕試驗箱;德國賽卡姆(Sykam)公司的全自動氨基酸分析儀;濟南海能公司凱氏定氮儀、電位滴定儀、熔點儀、折光儀、新儀微波消解儀、GAS離子遷移譜等;中國臺灣高鐵檢測儀器的多系列產(chǎn)品等等。多年來,公司一直與業(yè)內(nèi)品牌供應商之間保持良好的合作關系,并不斷引進各種優(yōu)質(zhì)的實驗室產(chǎn)品。 上海力晶科學儀器有限公司擁有多名經(jīng)驗豐富的流變技術工程師,可以為客戶提供專業(yè)的流變測試服務、細致的流變數(shù)據(jù)解析服務、以及個性化的流變測試方法開發(fā)和優(yōu)化服務。將流變學真正服務于企業(yè),為企業(yè)帶來看得見的效益。 上海力晶科學儀器有限公司還提供賽默飛世爾HAAKE流變儀、Nicolet紅外光譜儀和MicroSupport 微區(qū)取樣設備的租賃服務,配置豐富,可滿足客戶不同的測試需要。 上海力晶科學儀器有限公司在穩(wěn)步發(fā)展的過程中,一直堅持著“以專業(yè)的服務為客戶創(chuàng)造更多價值”的經(jīng)營理念,以實驗室用戶的體驗為服務目標,致力于建立專業(yè)的應用技術支持和售后服務團隊,為客戶提供專業(yè)、全面的技術支持服務。上海力晶科學儀器有限公司不斷引進和開發(fā)*的檢測技術和分析方法,結合用戶需求及儀器的使用要求,為用戶量身定制優(yōu)質(zhì)的儀器應用解決方案。
凱氏定氮儀、電位滴定儀、熔點儀、折光儀、新儀微波消解儀
組合式多功能X射線衍射儀Ultima IV系列是一種高性能多功能的粉晶X射線衍射儀,它采用了理學*的CBO交叉光學系統(tǒng),一臺儀器可以進行從普通粉末樣品到包括In-Plane在內(nèi)的薄膜樣品測試。采用組合式結構,通過對各個單元的不同組合,可以進行各種測試。
X射線衍射儀 Ultima IV系列組合式多功能 產(chǎn)品信息

X射線衍射儀 Ultima IV系列組合式多功能的詳細資料:



一、儀器簡介

組合式多功能X射線衍射儀Ultima IV系列是一種高性能多功能的粉晶X射線衍射儀,它采用了理學*的CBO交叉光學系統(tǒng),一臺儀器可以進行從普通粉末樣品到包括In-Plane在內(nèi)的薄膜樣品測試。采用組合式結構,通過對各個單元的不同組合,可以進行各種測試。

 

二、技術參數(shù)

1. X射線發(fā)生器功率為3KW

2. 測角儀為水平測角儀

3. 測角儀zui小步進為1/10000

4. 測角儀配程序式可變狹縫

5. 高反射效率的石墨單色器

6. CBO交叉光路,提供聚焦光路及高強度高分辨平行光路(帶Mirror)(理學)

7. 小角散射測試組件

8. 多用途薄膜測試組件

9. 微區(qū)測試組件

10. In-Plane測試組件(理學)

11. 高速探測器D/teX-Ultra

12. X射線衍射-差示掃描量熱儀同時測量裝置 XRD-DSC

13. 分析軟件包括:XRD分析軟件包、NANO-Solver軟件包、GXRR軟件包等

 

三、主要特點

組合式多功能X射線衍射儀Ultima IV系列,可以廣泛應用于各種材料結構分析的各個領域。

可以分析的材料包括:金屬材料、無機材料、復合材料、有機材料、納米材料、超導材料。

可以分析的材料狀態(tài)包括:粉末樣品、塊狀樣品、薄膜樣品、微區(qū)微量樣品

       主要的應用有:

1. 粉末樣品的物相定性與定量分析

2. 計算結晶化度、晶粒大小

3. 確定晶系、晶粒大小與畸變

4. Rietveld結構分析

5. 薄膜樣品分析,包括薄膜物相、多層膜厚度、表面粗糙度,電荷密度

6. In-Plane裝置可以同時測量樣品垂直方向的結構及樣品深度方向的結構

7. 小角散射與納米材料粒徑分布

8. 微區(qū)樣品的分析

 

 

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