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蔡司ZEISS T-SCAN CS+ 手持式激光掃描儀

參考價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 公司名稱博威特儀器(上海)有限公司
  • 品       牌
  • 型       號
  • 所  在  地上海
  • 廠商性質(zhì)其他
  • 更新時間2023/10/26 10:10:11
  • 訪問次數(shù)159
產(chǎn)品標簽:

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博威特儀器(上海)有限公司為廣東越聯(lián)儀器有限公司關聯(lián)企業(yè),旨在于更好服務于華東市場用戶而設,并在蘇州創(chuàng)業(yè)園設立儀器展廳及測試中心。是集研發(fā)、生產(chǎn)、銷售、進出口為一體的高科技企業(yè)。 公司擁有自己的工業(yè)設計能力,產(chǎn)品外觀質(zhì)感好,測控系統(tǒng)部門具有自主研發(fā)能力,開發(fā)之測控系統(tǒng)性能穩(wěn)定,按照GB、ASTM、AATSS、JIS、EN等各種國標、國際標準、行業(yè)標準等設計開發(fā),目前已在各行業(yè)用戶使用。憑借于多年的生產(chǎn)管理及技術(shù)沉淀,產(chǎn)品不斷創(chuàng)新,研發(fā)實力不斷加強,研發(fā)產(chǎn)品,爭取用戶是我司研發(fā)部門的主導方向。 目前公司研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的產(chǎn)品分為材料試驗機事業(yè)部、可靠性試驗箱事業(yè)部、測量事業(yè)部三大塊。產(chǎn)品分別有材料試驗機、定制性拉壓力試驗機、剝離強度試驗機、物理性試驗設備、影像測量儀、2.5次元、三坐標測量機、三維掃描儀、全尺寸測量儀、快速尺寸測量儀、精密烘箱、高低溫試驗箱、恒溫恒濕試驗箱、快速溫變試驗箱、冷熱沖擊試驗箱、步入式恒溫恒濕房、UV紫外線耐候試驗箱,氙燈耐氣候試驗箱、新能源鋰電池全套試驗設備等等,產(chǎn)品廣泛應用在汽車及零部件、3C、智能穿戴、新能源鋰電池、模具、鑄造壓鑄、家具、膠帶、薄膜、模切、包裝、航天航空、科研院校、質(zhì)檢藥檢等領域。
測量儀
蔡司ZEISST-SCANCS+手持式三維掃描儀產(chǎn)品詳情ProductInformation由于手持式激光掃描儀ZEISST-SCANCS的應用,使得快速、直觀和高度精確的3D掃描在坐標測量技術(shù)中進入全新的高度
蔡司ZEISS T-SCAN CS+ 手持式激光掃描儀 產(chǎn)品信息

  

蔡司ZEISS T-SCAN CS+手持式三維掃描儀

產(chǎn)品詳情 Product Information

         由于手持式激光掃描儀ZEISS T-SCAN CS的應用,使得快速、直觀和高度精確的3D掃描在坐標測量技術(shù)中進入全新的高度。全面革新且一體化的設計理念,包括匹配的輔助裝置(跟蹤儀、手持式掃描儀和接觸式測頭),為種類繁多的應用提供了的靈活性。高性能的軟件平臺colin3D能夠在整個測量過程中,始終如一地保持高效并始終堅持以項目為導向的操作過程。

面向用戶的、人性化的系統(tǒng)設計和易于操作的高效數(shù)據(jù)采集

         ZEISS T-SCAN激光掃描儀的設計符合人體工學原理??筛鶕?jù)操作者的需求量身定制,保證了掃描過程直觀、無疲勞感。由于配備了重量輕、結(jié)構(gòu)緊湊的測頭,該系統(tǒng)非常適合于數(shù)據(jù)捕獲,即使最難以到達的區(qū)域也不例外。

        優(yōu)秀的技術(shù)特性,例如,針對各種對象的表面進行高動態(tài)范圍內(nèi)的數(shù)據(jù)采集,而其所具有的迄今不可見的數(shù)據(jù)速率可以達到的掃描速度并得到精確的測量結(jié)果。

手持式測頭進行快速點測量

        ZEISS T-POINT接觸測頭快速可靠地測量所選擇的測量點,使其成為在物體區(qū)域內(nèi)進行單點測量的解決方案,如(修剪)邊緣和規(guī)則的幾何形狀。該裝置可與傳統(tǒng)的測頭一起使用,測頭更換更加簡單、快速。

動態(tài)參考

         即使在移動的物體上也能得到高精密的三維數(shù)據(jù)記錄,通過采用動態(tài)參考功能,在惡劣的環(huán)境條件下可以獨立執(zhí)行測量工作,如振動(生產(chǎn)環(huán)境中,例如沖壓車間或

加工部件:對移動車門的密封進行測量)。

通用軟件接口

        從數(shù)據(jù)采集到數(shù)據(jù)處理,至數(shù)據(jù)比較 - ZEISS T-SCAN系統(tǒng)可以通過眾多直接的實時接口進行控制。因此,可以輕松集成到現(xiàn)有的工藝流程中。

用于不同的測量體積的光學跟蹤系統(tǒng)

        從小型到大型的物體 - 系統(tǒng)配置“CS+”和“LV”,為您的個人測量應用提供理想解決方案。

 

ZEISS T- TRACK CS+“plus”體現(xiàn)的靈活性、ZEISS T-TRACK LV大范圍跟蹤儀

        ZEISS T-TRACK CS +光學跟蹤系統(tǒng)與所有其他系統(tǒng)組件進行優(yōu)化匹配,因此開辟了廣泛的測量應用領域。

        的數(shù)據(jù)處理速率使測量具有的速度,有利于限度地減少物體掃描過程的時間。

通過采用創(chuàng)新型掃描和跟蹤相結(jié)合的大范圍測量,您將在光學三維數(shù)字化中獲得全新的視角。

        現(xiàn)在您可以更快、更容易地記錄大型物體的3D數(shù)據(jù)-手持式激光掃描儀的高掃描速度和高達35立方米的跟蹤范圍,為您進行有效的測量處理提供可能的運動自由。

蔡司T-SCAN的技術(shù)數(shù)據(jù)

 

蔡司T-SCAN

測量深度

+/- 50毫米

行寬

125毫米

平均工作距離

150毫米

線路頻率

高達330赫茲

數(shù)據(jù)速率 

210.000點/秒

重量

1100克

傳感器尺寸

300 x 170 x 150毫米

 

 

蔡司T-TRACK CS +

蔡司T-TRACK 20

蔡司T-TRACK LV

測量距離:物鏡相機

2.0米 - 4.0米

2.0米 - 6.0米

1.5米 - 7.5米

測量量

6.3 m 3

20米3

35米3

視野

高達2466 mm x 2178 mm

高達3200 mm x 2500 mm

高達3700 mm x 2600 mm

測量率

4 kHz

4 kHz

4.5 kHz

外形尺寸

1150 x 180 x 150毫米

1150 x 180 x 150毫米

1157 x 230 x 175毫米

關鍵詞:傳感器
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