大尺寸振動(dòng)臺(tái)是一-款經(jīng)濟(jì)型,一款正弦振動(dòng)試驗(yàn)設(shè)備(功能函蓋定頻振動(dòng)、線性掃頻振動(dòng)、對(duì)數(shù)掃頻、倍頻、程式等),在試驗(yàn)室內(nèi)模擬電工電子產(chǎn)品在運(yùn)輸(船舶、飛機(jī)、 車輛、空間飛行器上所產(chǎn)生的振動(dòng))、儲(chǔ)存、使用過(guò)程中所遭受的振動(dòng)及其影響,并考核其適應(yīng)性。
電磁振動(dòng)臺(tái)廣泛應(yīng)用于汽車零部件、儀器儀表、玩具等各行各業(yè)的產(chǎn)品設(shè)計(jì)、研發(fā)、制造過(guò)程中,模擬產(chǎn)品在運(yùn)送、使用中產(chǎn)生的碰撞及振動(dòng),檢測(cè)產(chǎn)品實(shí)際工況和結(jié)構(gòu)強(qiáng)度。
測(cè)試方法:
ISO 2247 固定低頻率振動(dòng)試驗(yàn)
ISO 13355 垂直隨機(jī)振動(dòng)試驗(yàn)
ASTM D999 ASTM D4728
ASTM D3580
GB/T 4857. 10-2005
GB/T 4857. 7
大尺寸振動(dòng)臺(tái)的測(cè)試模式:
定頻試驗(yàn):在選定的頻率上(可以是共振頻率,特定頻率,或危險(xiǎn)頻率)按規(guī)定的量值進(jìn)行正弦振動(dòng)試驗(yàn),并達(dá)到規(guī)定要求的時(shí)間。
掃頻試驗(yàn):在規(guī)定的頻率范圍內(nèi),按規(guī)定的量值以一定的掃描速率由低頻到高頻,再由高頻到低頻作為一次掃頻,直到達(dá)到規(guī)定的總次數(shù)或時(shí)間為止。
對(duì)數(shù)試驗(yàn):對(duì)數(shù)模式中,低頻掃描速度慢,高頻掃描速度快,對(duì)數(shù)掃頻以1分鐘為單位,1 分鐘時(shí)間完成掃頻速率加倍。
隨機(jī)試驗(yàn):隨機(jī)振動(dòng)是一種非確定性振動(dòng),當(dāng)物體作隨機(jī)振動(dòng)時(shí),我們預(yù)先不可能確定物體上某監(jiān)測(cè)點(diǎn)在未來(lái)某個(gè)時(shí)刻運(yùn)動(dòng)參量的瞬時(shí)值。
程式試驗(yàn):依測(cè)試需求,可設(shè)置不同試驗(yàn)頻率、時(shí)間,可單組或多組。
倍頻試驗(yàn):倍頻掃頻是持續(xù)的且其頻率隨時(shí)間應(yīng)該按指數(shù)規(guī)律進(jìn)行變化,掃頻速率(掃頻過(guò)程中可控變量頻率對(duì)時(shí)間的變化率df/dt)應(yīng)為每分鐘一個(gè)倍頻程。有頻率范圍從f1→f2→f1掃頻一次的試驗(yàn)時(shí)間(加速時(shí)間),通過(guò)公式:6.644log10(高頻/低頻 )計(jì)算出來(lái)的結(jié)果,且其掃頻速率保證1倍頻程/分鐘的要求。