品質(zhì)部用冷熱循環(huán)試驗箱適用于電子電器零組件、通訊組件、自動化零部件、汽車配件、化學材料、金屬、塑膠等行業(yè)、航天、國防工業(yè)、BGA、兵工業(yè)、PCB基扳、電子芯片IC、半導體陶磁及高分子材料之物對高、低溫的反復抵拉力及產(chǎn)品處于熱脹冷縮的物理環(huán)境產(chǎn)出的化學變化或物理傷害,可確認各種產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機械的組件,無一不需要它,目前此設備是工業(yè)產(chǎn)業(yè)共認的理想測試工具。
品質(zhì)部用冷熱循環(huán)試驗箱執(zhí)行標準:
GB/T 10592-2008 高低溫試驗箱技術條件;
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗A:低溫 (IEC 60068-2-1:2007, IDT);
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫 (IEC 60068-2-2:2007, IDT);
GB/T 2423.22-2012 環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗N:溫度變化 (IEC 60068-2-14:2009, IDT);
GJB 150.3-86 設備環(huán)境試驗方法 第3部分 高溫試驗;
GJB/T 150.4-86 設備環(huán)境試驗方法 第4部分 低溫試驗;
GJB/T 150.5-86 設備環(huán)境試驗方法 第5部分 溫度沖擊試驗。
技術參數(shù):
1.內(nèi)箱尺寸:W800mm*H800mm*D800mm(柳沁可根據(jù)顧客需要做出更多合適尺寸的設備)。
2.外箱尺寸:以實際尺寸為標準。
3.高溫槽預熱溫度范圍:+60℃~200℃。
4.升溫時間: +60℃~200℃≤30min。
5.低溫槽預冷溫度范圍: -75~-10℃。
6.降溫時間: +20℃~-75℃≤60min;﹙注:降溫時間為低溫槽單獨運轉(zhuǎn)時的性能)。
7.試驗方式: 氣動風門切換。
8.溫度沖擊范圍: ﹙+60℃~+150℃﹚/﹙-65℃~-10℃﹚ 。
9.溫度波動度: ±0.5℃ 。
10.溫度偏差: ±2.0℃ 。
11.溫度恢復時間: ≤5分鐘。
12.試樣限制:本實驗設備禁止易爆、易燃、易揮發(fā)性物質(zhì)試樣的試驗或儲存;腐蝕性物質(zhì)試樣的試驗或儲存。