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TENDEM德國布魯克

參考價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱南京赫冠科學(xué)儀器有限公司
  • 品       牌
  • 型       號
  • 所  在  地南京市
  • 廠商性質(zhì)其他
  • 更新時間2022/8/21 12:16:24
  • 訪問次數(shù)1308
產(chǎn)品標(biāo)簽:

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南京赫冠科學(xué)儀器有限公司,是專業(yè)從事實驗室分析儀器銷售和售后服務(wù)的科技型企業(yè),本著誠信、敬業(yè)、服務(wù)至上的經(jīng)營理念,以專業(yè)、全面的技術(shù)支持和快捷、細致的售后服務(wù)為導(dǎo)向,逐步發(fā)展,以滿足各專業(yè)實驗室的需求。公司為廣大分析實驗室主要提供各種色譜類儀器、光譜類儀器和前處理類設(shè)備等理化類產(chǎn)品;代理和經(jīng)銷國內(nèi)外產(chǎn)品,主要服務(wù)于質(zhì)檢、商檢、衛(wèi)生防疫、藥檢、環(huán)保、農(nóng)業(yè)、糧檢和高校及科研院所等各大行業(yè)專業(yè)實驗室,并涵蓋制藥、化工、日化、食品、涂料、建材、電子等各級實驗室。
光譜儀
在線 PAT 片劑分析工具
TENDEM德國布魯克 產(chǎn)品信息

TANDEM 是一個全自動的、在線 PAT 工具,允許收集加工數(shù)據(jù)和控制片劑壓縮流程。該系統(tǒng)可提供制藥片劑的物理和化學(xué)信息。

提供藥片的物理性質(zhì)(重量、厚度、直徑、硬度)

含量均勻度分析;同步量化多種成分,例如 API 及含水量

滿足 IQ/OQ/PQ 以及 USP/EP 標(biāo)準(zhǔn)

IP65 等級,適用于定位清洗 (CIP)

監(jiān)管機構(gòu)要求準(zhǔn)確分析藥物成品,以確認(rèn)產(chǎn)品的含量均勻度和物理特征。

傳統(tǒng)的含量均勻度分析一般采用液相色譜法離線進行。這個過程比較費時,需要許多操作員,并需要在生產(chǎn)批次和連續(xù)的實驗室分析中定期手動采集樣品藥片。近紅外傳輸光譜分析技術(shù)可以保證可靠、快速及無損的檢測藥片含量均勻度,以及分析水分和賦形劑,成為傳統(tǒng)方法的替代者。

TANDEM 是市場上的技術(shù),經(jīng) FDA 批準(zhǔn)可以實時放行 (RTR)。


TANDEM 是一個在線制藥片劑分析工具,包括 Sotax AT4 傳統(tǒng)片劑測試系統(tǒng)和布魯克 MATRIX 傅立葉變換近紅外光譜儀。



IP65防護等級

TANDEM按照IP65防護等級設(shè)計生產(chǎn),達到防塵、防水的目的,允許用水或者推薦的溶劑清除污染。TANDEM的機械構(gòu)造允許對儀器進行快速高效地清潔,能夠快速簡單的將單元模塊從儀器上拆卸或安裝。TANDEM能夠在絕大多數(shù)嚴(yán)峻的生產(chǎn)車間現(xiàn)場良好地工作,當(dāng)然將儀器安裝在一個隔振器上是儀器理想的工作環(huán)境。

近紅外漫透射檢測探頭配合自動化片劑精準(zhǔn)定位裝置提供重復(fù)性的檢測結(jié)果。

軟件

利用TabStatProTM軟件連同布魯克OPUS的數(shù)據(jù)采集和評價軟件,布魯克能夠?qū)崿F(xiàn)與壓片機的無縫集成串聯(lián)??筛鶕?jù)特定片劑設(shè)定測樣周期,測量參數(shù)和分析結(jié)果可以存儲在數(shù)據(jù)庫中,并且配備OPC接口,分析參數(shù)可以實時地傳遞到其他過程監(jiān)控軟件平臺,比如西門子SIPATTM。

驗證

完整的儀器、軟件驗證包括:

  • 符合21 CFR Part 11要求

  • 符合 GMP要求

  • 支持 IQ/OQ/PQ

一站式維護服務(wù)

TANDEM的設(shè)計易于使用者的維護,如更換近紅外光源或根據(jù)產(chǎn)品的變換更換藥片適配器。實時診斷功能可以監(jiān)控儀器并且提示用戶測試失敗的單元。

點擊布魯克儀器性能測試軟件的一個按鈕,軟件與儀器內(nèi)置的內(nèi)部驗證單元即可自動完成儀器性能的驗證,保證整套系統(tǒng)正常工作。儀器維護簡單快捷,限度降低儀器維護給生產(chǎn)過程帶來的影響。

布魯克—過程分析技術(shù)(PAT)的

布魯克提供基于分子震動光譜用于FDA過程分析技術(shù)的解決方案:

  • MPA 用于線邊模型開發(fā)的傅里葉變換近紅外(FT-NIR)光譜儀

  • MATRIX-F 過程控制傅里葉變換近紅外(FT-NIR)光譜儀

  • MATRIX-MF 過程控制傅里葉變換近紅外(FT-NIR)光譜儀

提及下述: US 7034944; US 5923422


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