高溫高濕試驗(yàn)箱用于半導(dǎo)體電子元器件行業(yè),用于考核元器件在在高溫,高濕的條件下對(duì)濕氣的抵抗能力,加速其失效進(jìn)程,同時(shí)可附帶評(píng)價(jià)產(chǎn)品外觀的寢蝕。常用測(cè)試條件:Ta = 85℃ 85%RH
特點(diǎn)
測(cè)試空間容積為80L,120L,225L,408L,504L,800L,1000L,非標(biāo)定制等
高效的控制和監(jiān)控系統(tǒng),自帶集成的測(cè)試數(shù)據(jù)記錄功能。
帶菜單引導(dǎo)界面的彩色控制面板。
USB接口以太網(wǎng)接口。
具有獨(dú)立溫度測(cè)量(Tmin/Tax)功能的試樣保護(hù)裝置。
高速空氣循環(huán)速率可確保試驗(yàn)區(qū)內(nèi)的溫度和濕度分布均勻。
即使在高溫環(huán)境下也能提供可靠的測(cè)試數(shù)據(jù)值。
低噪聲級(jí)。
高分辨的彩色觸摸屏具有圖像顯示功能,便于處理環(huán)境模擬程序
能耗最小
設(shè)計(jì)和技術(shù)參數(shù):
型號(hào) LS-THT-80 LS-THT-120 LS-THT-225 LS-THT-408 LS-THT-504 LS-THT-800 LS-THT-1000 工作尺寸(CM) 40×50×40 45×60×45 50×75×60 60×85×80 70×90×80 100×100×80 100×100×100 外部尺寸(CM) 100×134×72 107×144×77 120×164×92 122×169×112 140×189×136 162×184×112 162×184×132 溫度范圍 RT+10~100℃以下 濕度范圍 65%~98%RH 升溫平均速率 3-5℃/min 溫度波動(dòng)度 ±0.5℃ 溫度均勻度 ±1.0℃ 溫度濕度偏差 ±1.0℃ ; ±3.0%RH 內(nèi)部材質(zhì) 304SUS不銹鋼 外部材質(zhì) 冷軋板噴塑或304SUS不銹鋼 電源 AC:220V/380V 50/60Hz