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SpecEl Ellipsometer System

參考價(jià)面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱(chēng)廣州標(biāo)旗光電科技發(fā)展股份有限公司
  • 品       牌
  • 型       號(hào)
  • 所  在  地
  • 廠商性質(zhì)其他
  • 更新時(shí)間2021/8/4 16:40:11
  • 訪問(wèn)次數(shù)566
產(chǎn)品標(biāo)簽:

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廣州標(biāo)旗光電科技發(fā)展股份有限公司成立于2005年,位于國(guó)家*產(chǎn)業(yè)開(kāi)發(fā)區(qū)廣州科學(xué)城。在光譜快速檢測(cè)領(lǐng)域深耕10年,熟悉各種光譜快速檢測(cè)方案的搭建,為化工、光電、材料、農(nóng)學(xué)、生物等不同領(lǐng)域的客戶(hù)提供了上百種檢測(cè)方案,2014年被認(rèn)定為*。公司擁有強(qiáng)大的研發(fā)、銷(xiāo)售團(tuán)隊(duì),擁有*的創(chuàng)新能力,2015年榮獲廣州開(kāi)發(fā)區(qū)“瞪羚企業(yè)”稱(chēng)號(hào),2016年成功認(rèn)定為廣州市研發(fā)機(jī)構(gòu),2016年順利通過(guò)ISO 9001:2015質(zhì)量管理體系認(rèn)證。
標(biāo)旗在“科技創(chuàng)新,真誠(chéng)服務(wù)”的企業(yè)核心價(jià)值觀的下,不斷創(chuàng)新和發(fā)展,形成集算法開(kāi)發(fā)、軟件開(kāi)發(fā)、硬件開(kāi)發(fā)、光路設(shè)計(jì)及電路設(shè)計(jì)為一體的研發(fā)體系,標(biāo)旗團(tuán)隊(duì)基于光纖光譜儀的應(yīng)用,開(kāi)發(fā)了不同應(yīng)用領(lǐng)域的光譜快速檢測(cè)儀器,不斷沉淀與打造自主品牌——科思凱(Qspec)。目前,標(biāo)旗已擁有一系列具有核心競(jìng)爭(zhēng)力的科思凱產(chǎn)品,包括:平面光學(xué)元件光譜分析儀、球面光學(xué)元件顯微檢測(cè)儀、透過(guò)率檢測(cè)儀、珠寶檢測(cè)儀、近紅外光譜檢測(cè)儀、全光譜層析掃描儀、非接觸光學(xué)測(cè)厚儀、微量紫外分光光度計(jì)、物質(zhì)分析儀和高功率鹵素冷光源等。標(biāo)旗科思凱系列產(chǎn)品儀器優(yōu)勢(shì)顯著,具有高效、迅速、準(zhǔn)確的特點(diǎn),將“中國(guó)創(chuàng)造”的研發(fā)理念與攻關(guān)思路融入到每項(xiàng)產(chǎn)品的開(kāi)發(fā)中,實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品應(yīng)用與科技進(jìn)步、市場(chǎng)需求緊密結(jié)合,不斷突破傳統(tǒng)技術(shù),實(shí)現(xiàn)產(chǎn)業(yè)升級(jí)改造,實(shí)現(xiàn)理論研究與生產(chǎn)應(yīng)用的轉(zhuǎn)化,真正將創(chuàng)造力作為公司不斷向前發(fā)展的核心動(dòng)力,將中國(guó)創(chuàng)造內(nèi)化于企業(yè)發(fā)展中。

同時(shí),標(biāo)旗也是許多科技裝備企業(yè)在國(guó)內(nèi)的*的代理商和經(jīng)銷(xiāo)商,包括:Ocean Optics光纖光譜儀(華南區(qū)總代理),PerkinElmer分析儀器、P&P成像光譜儀。

標(biāo)旗秉承專(zhuān)業(yè)、真誠(chéng)、貼心的服務(wù)宗旨,針對(duì)客戶(hù)的需求,量身定制光譜檢測(cè)應(yīng)用方案,幫助客戶(hù)解決科研和生產(chǎn)中的實(shí)際問(wèn)題,全程提供售前、售中和售后服務(wù)。標(biāo)旗的成長(zhǎng)離不開(kāi)客戶(hù)的支持,目前,公司積累了豐富的技術(shù)和客戶(hù)資源,積極與高校合作,致力于產(chǎn)學(xué)研的成長(zhǎng)模式;而且努力為同行業(yè)者搭建線(xiàn)上和線(xiàn)下交流平臺(tái),向客戶(hù)學(xué)習(xí),更好的服務(wù)于客戶(hù)。

科技的發(fā)展日新月異,標(biāo)旗緊跟科技進(jìn)步與時(shí)代發(fā)展的步伐,在光譜快速檢測(cè)道路上不斷前行,臻于至善。

光纖光譜儀,拉曼光譜儀,近紅外光譜儀,反射率測(cè)試儀
SpecEl Ellipsometer System
SpecEl Ellipsometer System 產(chǎn)品信息

The SpecEl-2000-VIS Ellipsometer measures polarized light reflected from the surface of a substrate to determine the thickness and refractive index of the material as a function of wavelength. The SpecEl is controlled via a PC. Measure refractive index, absorbance and thickness with the touch of a button.

All-in-one Accurate System

The SpecEl houses an integrated light source, a spectrometer and two polarizers fixed to 70°. It also includes a PC with a 32-bit Windows operating system. The SpecEl can detect a single layer as thin as 0.1 nm and up to 5 µm thick. In addition, it can provide refractive indices to 0.005°.

The SpecEl is available for Call for Price.

SpecEl Software and "Recipe" Files

In SpecEl Software, you can configure and save experiment method files for one-step analysis. after creating a "recipe," you can select the recipe to execute the experiment.

Specifications

Wavelength range:380-780 nm (standard) or 450-900 nm (optional)
Optical resolution:4.0 nm FWHM
Accuracy:0.1 nm thickness; 0.005% refractive index
Angle of incidence:70°
Film thickness:1-5000 nm for single transparent film
Spot size:2 mm x 4 mm (standard) or 200 µm x 400 µm (optional)
Sampling time:3-15 seconds (minimum)
Kinetic logging:3 seconds
Mechanical tolerance (height):+/- 1.5 mm, angle +/- 1.0°
Number of layers:Up to 32 layers
Reference:Not applicable

 

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