反/透射測量儀

反/透射測量儀

產(chǎn)品概述

FT2000反/透射測量儀改良了光譜測量中原有反、透射率的樣品測試方式，具有開闊的樣品操作平臺(tái)，能夠更方便、更快速地測量各種樣品，為您的測量工作提供更加準(zhǔn)確的技術(shù)分析，非常適合于實(shí)驗(yàn)室使用。FT2000采用高品質(zhì)大功率鹵素?zé)糇鳛楣庠?，采集光譜位置根據(jù)樣品形態(tài)可在反射和透射之間采用積分器式靈活切換模式，能夠提供光譜吸收較高樣品的光譜測量，可以為樣品提供更多的特征分析。FT2000將透射和反射測量合二為一，為您節(jié)省了更多的設(shè)備成本。主要應(yīng)用于珠寶鑒定、薄膜透射測量、考古鑒定等等。

產(chǎn)品圖片

反/透射測量儀

產(chǎn)品參數(shù)

產(chǎn)品主要特點(diǎn)

?  靈活穩(wěn)定的采樣系統(tǒng)

集成了多種孔徑的樣品托架，可以測量不同尺寸的樣品，萬向式調(diào)節(jié)支架，配備了8°角積分球系統(tǒng)，采用積分式測量，結(jié)果更準(zhǔn)確。

?  超寬光譜測量范圍

可選配氘燈，光譜范圍可擴(kuò)展至210-2500 nm。集成高功率的鹵素?zé)?，適用于較高光譜吸收率的樣品。

?  超高的光電性能

優(yōu)秀的信噪比1000:1，更高的光學(xué)分辨率，可以達(dá)到~0.035 nm，分辨率取決于光柵和狹縫的選擇，提供更清晰的光譜特征分辨。

?  OneRT技術(shù)

OneRT技術(shù)使得FT2000集反射透射測量于一身，避免了用戶使用不同設(shè)備進(jìn)行反射測量和透射測量，從而節(jié)約了成本。

技術(shù)優(yōu)勢

2  積分式采集技術(shù)

積分式采集技術(shù)主要應(yīng)用于FT2000系統(tǒng)中，它通過探測口對光譜進(jìn)行大范圍的采集（采集范圍根據(jù)實(shí)際需要進(jìn)行定制），積分球內(nèi)膽的內(nèi)表面為PTFE 材料，具有更高的反射率，更細(xì)膩的內(nèi)部表面結(jié)構(gòu)和更穩(wěn)定的材質(zhì)，不會(huì)因?yàn)榕c空氣發(fā)生氧化反應(yīng)而發(fā)黃變質(zhì)。其適用200-2500 nm波段，對于漫反射的樣品測量結(jié)果更加準(zhǔn)確，如下圖所示，左邊是常規(guī)的光纖采集透過光信號的示意圖，由于漫反射光束分散，并不能獲取采集完整的透過率光信號，從而導(dǎo)致測量誤差較大。右圖是采用積分式采集技術(shù)的示意圖，從中可以看出，其采集透過率的光信號完整，所以相對誤差較小，結(jié)果更加準(zhǔn)確。

光采集對比圖

2  低雜散高靈敏技術(shù)

采用面陣背照式高速CCD和高速處理芯片及算法，實(shí)現(xiàn)更快的光譜檢測。下圖是FT2000和其他常規(guī)產(chǎn)品基線測試的對比圖，從數(shù)據(jù)可以看出，FT2000較常規(guī)產(chǎn)品的信噪比優(yōu)勢非常明顯，使用FT2000可以獲得更為理想的測量結(jié)果。FT2000的探測器使用了Hamamatsu背照式的面陣FFT-CCD，可以地應(yīng)用于那些需要高量子化效率和更寬譜段的樣品檢測領(lǐng)域。

基線對比圖

2  OneRT技術(shù)

FT2000考慮到用戶的使用習(xí)慣，采用了辰昶專有的OneRT技術(shù),集反射測量和透射測量于一體，并且兩種模式能夠快速切換，在同一臺(tái)設(shè)備上實(shí)現(xiàn)了樣品的透射光譜、反射光譜、熒光光譜、顏色和吸收光譜的快速測量。

備注

1. 設(shè)備中的燈泡為耗材，根據(jù)實(shí)驗(yàn)實(shí)際使用情況，盡量在燈泡使用壽命之前提前更換，以免影響測量結(jié)果。

2. 測量中所使用的標(biāo)準(zhǔn)白板和標(biāo)準(zhǔn)鋁鏡切勿觸摸，保持兩者的整潔度，且使用時(shí)間為12個(gè)月，隨著使用時(shí)間的加長，效率會(huì)有所降低，可視具體情況更換。

3. 儀器中的石英光纖為易碎附件，切勿彎折，輕拿輕放。

4. 本儀器為精密測量儀器，不使用狀態(tài)時(shí)，請保持儀器電源斷電，儀器整潔，儀器蓋合上，并防止儀器震蕩。