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光學(xué)輪廓儀/白光干涉儀/MicroXAM-800 Optical Profiler 數(shù)碼顯微鏡

參考價(jià)面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱上海納嘉儀器有限公司
  • 品       牌
  • 型       號(hào)MicroXAM-800
  • 所  在  地
  • 廠商性質(zhì)其他
  • 更新時(shí)間2023/8/16 9:22:58
  • 訪問次數(shù)437
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上海納嘉儀器有限公司專業(yè)致力于銷售各種科研測試類儀器與技術(shù)服務(wù),主要代理公司的微納米級(jí)表面測量產(chǎn)品,著力為各高校,研究所以及高科技公司等單位提供集產(chǎn)品、應(yīng)用和服務(wù)于一體的整體解決方案! 上海納嘉儀器有限公司主要代理多款微納米級(jí)別表面測量儀器:原子力顯微鏡&掃描探針顯微鏡,探針式輪廓儀(臺(tái)階儀,三維光學(xué)輪廓儀,色散共焦輪廓儀,光譜式橢偏儀,反射干涉儀以及各種儀器耗材等。 我們秉承“為合作伙伴創(chuàng)造價(jià)值”的核心價(jià)值觀,并以“誠實(shí)、寬容、創(chuàng)新、服務(wù)”為企業(yè)精神,通過自主創(chuàng)新和真誠合作為行業(yè)創(chuàng)造價(jià)值。 關(guān)于“為合作伙伴創(chuàng)造價(jià)值” 我們認(rèn)為客戶、供應(yīng)商、公司股東、公司員工等一切和自身有合作關(guān)系的單位和個(gè)人都是自己的合作伙伴,并只有通過努力為合作伙伴創(chuàng)造價(jià)值,才能體現(xiàn)自身的價(jià)值并獲得發(fā)展和成功。 關(guān)于“誠實(shí)、寬容、創(chuàng)新、服務(wù)” 我們認(rèn)為誠信是一切合作的基礎(chǔ),寬容是解決問題的前提,創(chuàng)新是發(fā)展事業(yè)的利器,服務(wù)是創(chuàng)造價(jià)值的根本。
數(shù)碼顯微鏡
光學(xué)輪廓儀/白光干涉儀/MicroXAM-800OpticalProfilerMicroXAM-800是一款基于白光干涉儀的光學(xué)輪廓儀,采用相位掃描干涉技術(shù)(PSI)對(duì)納米級(jí)特征進(jìn)行測量,以及采用垂直掃描干涉技術(shù)(VSI)對(duì)亞微米至毫米級(jí)特征進(jìn)行測量
光學(xué)輪廓儀/白光干涉儀/MicroXAM-800 Optical Profiler 數(shù)碼顯微鏡 產(chǎn)品信息

光學(xué)輪廓儀/白光干涉儀/MicroXAM-800 Optical Profiler


MicroXAM-800是一款基于白光干涉儀的光學(xué)輪廓儀,采用相位掃描干涉技術(shù)(PSI)對(duì)納米級(jí)特征進(jìn)行測量,以及采用垂直掃描干涉技術(shù)(VSI)對(duì)亞微米至毫米級(jí)特征進(jìn)行測量。 MicroXAM-800的程序設(shè)置簡單靈活,可以進(jìn)行單次掃描或多點(diǎn)自動(dòng)測量,適用于研發(fā)和生產(chǎn)環(huán)境。

 

產(chǎn)品描述

MicroXAM-800光學(xué)輪廓儀是一種非接觸式3D表面形貌測量系統(tǒng)。MicroXAM的白光干涉儀可以埃級(jí)分辨率對(duì)表面進(jìn)行高分辨率測量。 該系統(tǒng)支持相位和垂直掃描干涉測量,兩者都是傳統(tǒng)的相干掃描干涉技術(shù)(CSI)。MicroXAM進(jìn)一步擴(kuò)展了這些技術(shù),它采用SMART Acquire為新手用戶簡化了程序設(shè)置,并且采用z-stitching干涉技術(shù)可以對(duì)大臺(tái)階高度進(jìn)行高速測量。

MicroXAM測量技術(shù)的優(yōu)勢在于測量的垂直分辨率與物鏡的數(shù)值孔徑無關(guān),因而能夠在大視野范圍內(nèi)進(jìn)行高分辨率測量。測量區(qū)域可以通過將多個(gè)視場拼接為同一個(gè)測量結(jié)果而進(jìn)一步增加。 MicroXAM的用戶界面創(chuàng)新而簡單,適用于從研發(fā)到生產(chǎn)的各種工作環(huán)境。

 

主要功能

· 針對(duì)納米級(jí)到毫米級(jí)特征的相位和垂直掃描干涉測量

· SMART Acquire簡化了采集模式并采用已知優(yōu)化的程序設(shè)置的測量范圍輸入

· Z-stitching干涉技術(shù)采集模式,可用于單次掃描以及編譯多個(gè)縱向(z)距離很大的表面

· XY-stitching可以將大于單個(gè)視野的連續(xù)樣本區(qū)域拼接成單次掃描

· 使用腳本簡化復(fù)雜測量和工作流程分析的創(chuàng)建,實(shí)現(xiàn)了測量位置、調(diào)平、過濾和參數(shù)計(jì)算的靈活性

· 利用已知技術(shù),從其他探針和光學(xué)輪廓儀轉(zhuǎn)移算法

 

 

主要應(yīng)用

· 臺(tái)階高度:納米級(jí)到毫米級(jí)的3D臺(tái)階高度

· 紋理:3D粗糙度和波紋度

· 形式:3D翹曲和形狀

· 邊緣滾降:3D邊緣輪廓測量

· 缺陷復(fù)檢:3D缺陷表面形貌

· 

工業(yè)應(yīng)用

· 大學(xué)、研究實(shí)驗(yàn)室和研究所

· 半導(dǎo)體和化合物半導(dǎo)體

· LED:發(fā)光二極管

· 電力設(shè)備

· MEMS:微電子機(jī)械系統(tǒng)

· 數(shù)據(jù)存儲(chǔ)

· 醫(yī)療設(shè)備

· 精密表面

· 汽車

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