WYPLSpec系列光致發(fā)光光譜測試系統(tǒng)
系統(tǒng)型號
WYPLSpec I 常溫掃描型
WYPLSpec II 低溫掃描型
WYPLSpec M Mini 攝譜型
本系統(tǒng)可以測試半導(dǎo)體材料或其他發(fā)光特性材料在激光激發(fā)下產(chǎn)生的熒光光譜。通常情況下采用紫外或進(jìn)紫外激光激發(fā)半導(dǎo)體材料(如GaN、Zno、CdTe 等)產(chǎn)生熒光;或用可見、紅外激光器激發(fā)稀土摻雜的玻璃或晶體材料產(chǎn)生的熒光,通過對其熒光光譜的測量,分析材料能帶結(jié)果等特征。
技術(shù)指標(biāo):
● 光譜范圍:200-2500nm(可根據(jù)實(shí)際需要選擇)
● 波長準(zhǔn)確度:±0.2nm
● 光譜分辨率:±0.1nm
● 光譜帶寬:0.2-10nm 可調(diào)
● 光源波長:224nm、248nm、266nm、325nm、488nm、532nm、946nm、1964nm 等可選
● 可升級做透射、反射光譜測試