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高分辨率二維和三維X射線系統(tǒng) 激光粒度儀

參考價(jià)面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱安賽斯(中國(guó))有限公司
  • 品       牌
  • 型       號(hào)
  • 所  在  地
  • 廠商性質(zhì)其他
  • 更新時(shí)間2023/9/21 9:54:34
  • 訪問次數(shù)441
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安賽斯(ANALYSIS)公司是專業(yè)從事分析儀器銷售、測(cè)試服務(wù)、以及*材料制造的綜合服務(wù)商。公司總部位于香港繁華的中環(huán)中心商務(wù)區(qū)。 安賽斯(北京)科技有限公司具有中華人民共和國(guó)A類資質(zhì)的進(jìn)出口企業(yè),是國(guó)家納稅誠(chéng)信單位。公司始終堅(jiān)持“誠(chéng)信、專業(yè)”的發(fā)展理念,用視角,引入*的技術(shù)與產(chǎn)品,為國(guó)內(nèi)用戶提供本地化的專業(yè)服務(wù)。 安賽斯公司憑借豐富的現(xiàn)貨庫(kù)存、龐大的營(yíng)銷網(wǎng)絡(luò)和專業(yè)的服務(wù)經(jīng)驗(yàn),在多年行業(yè)服務(wù)的基礎(chǔ)上,為廣大用戶提供分析測(cè)試儀器和配套技術(shù)服務(wù);同時(shí)依托產(chǎn)品的技術(shù)優(yōu)勢(shì)和性能,集合了自身的研發(fā)、系統(tǒng)集成優(yōu)勢(shì),針對(duì)客戶的測(cè)試需求提供個(gè)性化的應(yīng)用解決方案。  公司的客戶涉及高等院校、科研院所、航空航天、微電子、新能源、生物醫(yī)藥、節(jié)能環(huán)保等行業(yè)和領(lǐng)域。擁有具備豐富知識(shí)和專業(yè)經(jīng)驗(yàn)的技術(shù)服務(wù)團(tuán)隊(duì),致力于更好的為行業(yè)客戶提供專業(yè)、便捷的本地化服務(wù)。 安賽斯公司將始終以為客戶提供"更豐富的產(chǎn)品選擇,更經(jīng)濟(jì)的解決方案,更全面的專業(yè)服務(wù)"為使命,用的技術(shù)與專業(yè)的服務(wù)為客戶提供的支持,和客戶同成長(zhǎng)、共輝煌。
電子顯微鏡
高分辨率二維和三維X射線系統(tǒng)FF70CL適用于全自動(dòng)分析最小缺陷的高分辨率二維和三維X射線系由于晶片、基板、帶材上或最終產(chǎn)品的組件中存在缺陷,因而在半導(dǎo)體制造中,需借助自動(dòng)化、高質(zhì)量、可靠、快速的無(wú)損檢測(cè)和分析來(lái)實(shí)現(xiàn)生產(chǎn)
高分辨率二維和三維X射線系統(tǒng) 激光粒度儀 產(chǎn)品信息


高分辨率二維和三維X射線系統(tǒng) FF70 CL

適用于全自動(dòng)分析最小缺陷的高分辨率二維和三維X射線系

由于晶片、基板、帶材上或最終產(chǎn)品的組件中存在缺陷,因而在半導(dǎo)體制造中,需借助自動(dòng)化、高質(zhì)量、可靠、快速的無(wú)損檢測(cè)和分析來(lái)實(shí)現(xiàn)生產(chǎn)。新型FF70 CL X射線檢測(cè)系統(tǒng)專門設(shè)計(jì)用于對(duì)這些樣品中最小和的缺陷進(jìn)行自動(dòng)化分析。結(jié)果:測(cè)試和檢測(cè)非常精確且可重復(fù),性能出色。

l 改善質(zhì)量監(jiān)控,以更高的分辨率檢查更多的位置,從而確定可能遺漏的故障

l 通過(guò)更佳的測(cè)試覆蓋率顯著降低成本,從而提高產(chǎn)量

l 可隨時(shí)對(duì)工藝和缺陷參數(shù)的一致性進(jìn)行可靠和可重復(fù)檢查

l 該創(chuàng)新自動(dòng)化分析解決方案易于使用,優(yōu)化了操作成本

系統(tǒng)能力

FF70 CL具有較大的檢測(cè)面積,即,510 x 610mm,以及極精細(xì)的檢測(cè)深度,即,小于150nm,非常適合對(duì)三維集成電路、芯片和晶片中的焊接凸點(diǎn)和填充過(guò)孔進(jìn)行自動(dòng)、無(wú)損分析。


系統(tǒng)操作臺(tái)的創(chuàng)新真空機(jī)制在分析過(guò)程中能夠安全、精確地保持樣品,并抵消樣品翹曲的影響。


FF70 CL
提供二維(自上而下)高性能平板探測(cè)器和三維(CL-計(jì)算機(jī)分層攝影)自動(dòng)分析,使用高分辨率圖像增強(qiáng)器在特殊操作組件內(nèi)進(jìn)行傾斜旋轉(zhuǎn)。


一代的納米焦點(diǎn)X射線管可生成能顯示和測(cè)量最小空隙和功能的二維和三維圖像,使FF70 CL能夠分析的*半導(dǎo)體難題。


圖形用戶界面(GUI)便于使用且直觀,允許用戶輕松創(chuàng)建自動(dòng)化、多點(diǎn)和多功能分析檢測(cè)程序。


自動(dòng)、連續(xù)監(jiān)測(cè)系統(tǒng)各個(gè)方面的背景校準(zhǔn)測(cè)試,可以確保隨時(shí)間變化的測(cè)量重復(fù)性。


系統(tǒng)屬性一覽:

l 可執(zhí)行自動(dòng)化高通量分析,重復(fù)性良好且結(jié)果可靠

l 可簡(jiǎn)單創(chuàng)建自動(dòng)化、多點(diǎn)和多功能分析檢測(cè)程序,允許樣品和測(cè)量任務(wù)之間的快速變化

l 可執(zhí)行持續(xù)背景監(jiān)測(cè)和優(yōu)化,確保測(cè)量重復(fù)性和準(zhǔn)確性

技術(shù)數(shù)據(jù)

Attribute

Respective Value

Sample Diameters

795 [mm] (30.1")

Sample Height

150 [mm] (5.7")

Maximum Sample Weight

2 [kg]

System Dimensions

1940 x 2605 x 2000 [mm]

CT Modes

Ultra-high resolution Computed Laminography (CL)

Manipulation

Ultra-precise manipulator, active anti-vibration system, highest reliability

咨詢或索取詳細(xì)產(chǎn)品資料,請(qǐng)聯(lián)系ANALYSIS(安賽斯)工作人員。

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