【背景】
為了幫助用戶更好的驗(yàn)證現(xiàn)有的色水法、微生物挑戰(zhàn)法的靈敏度,或者驗(yàn)證新方法真空衰減法、激光法、高壓放電法的靈敏度,上海眾林提供CCIT陽(yáng)性樣品制備服務(wù)。
【關(guān)于激光打孔技術(shù)】
主要采用的陽(yáng)性樣品制備技術(shù)---激光打孔技術(shù),是美國(guó)FDA*的,USP1207引用的陽(yáng)性樣品制備技術(shù)。
激光打孔技術(shù)相比其他陽(yáng)性樣品制備方法的優(yōu)勢(shì)在于:漏孔幾何形狀和內(nèi)部氣體流動(dòng)行為接近真實(shí)缺陷,激光打孔產(chǎn)生的泄漏通道是不規(guī)則的曲折通道,非常接近真實(shí)的缺陷。
每一個(gè)漏孔都有配置漏孔校驗(yàn)證書,確保漏孔尺寸可追溯。當(dāng)前,激光打孔技術(shù)在硬質(zhì)玻璃或塑料材質(zhì)上小可打的孔徑大約是3um,如果更小的孔很容易被環(huán)境的灰塵雜質(zhì)堵塞。
新修訂的美國(guó)藥典USP 1207.2包裝完整性泄漏測(cè)試技術(shù)(也稱為容器密閉完整性測(cè)試技術(shù)(CCIT))將檢漏方法分類為確定性的方法和概率性的方法,其中真空衰減法、高壓放電法和激光頂空分析方法是確定性的方法,而傳統(tǒng)的微生物侵入法和色水法是概率性的方法?,F(xiàn)有的FDA等法規(guī)更傾向于采用經(jīng)驗(yàn)證的物理定量的測(cè)試方法,也就是USP 1207.2里面提到的確定性的方法。上海眾林擁有真空衰減法、高壓放電法和激光頂空分析等確定性的*測(cè)試技術(shù),并且為客戶產(chǎn)品提供定制的技術(shù)解決方案,其宗旨是幫助客戶順利通過FDA審查和歐盟審查。
CCIT陽(yáng)性樣品制備服務(wù)
方法介紹:
1、高壓放電法:高壓放電泄漏檢測(cè)技術(shù)是一種離線實(shí)驗(yàn)室檢漏儀器,它利用HVLD泄漏檢測(cè)技術(shù),檢查個(gè)別樣品的包裝完整性。 HVLD*可以對(duì)樣品非破壞性,非接觸式,非侵入性檢漏,且沒有必要準(zhǔn)備試驗(yàn)樣品。包裝/容器的材料必須是不導(dǎo)電(玻璃,塑料,聚層壓板)。 HVLD可以用于液體產(chǎn)品的檢漏,包括懸浮液,乳液和蛋白產(chǎn)品種類繁多。 HVLD已被證明是一個(gè)高度敏感的藥品包裝(預(yù)充式注射器,充滿液體瓶,吹塑填充密封容器,輸液袋等裝滿液體袋)各類泄漏測(cè)試方法。
2、真空衰減法:密封測(cè)試儀連接到一個(gè)特別設(shè)計(jì)用來(lái)容納需要被測(cè)試的包裝的測(cè)試腔。包裝被置于要被抽真空的測(cè)試腔內(nèi)。雙傳感器技術(shù)不僅用來(lái)監(jiān)測(cè)真空度同樣也監(jiān)測(cè)預(yù)定測(cè)試時(shí)間段中的真空變化。真空和真空差壓的變化暗示了當(dāng)前包裝中存在泄漏。一項(xiàng)測(cè)試的靈敏度取決于傳感器的靈敏度、包裝的形式、包裝測(cè)試時(shí)的夾具以及測(cè)試中的關(guān)鍵參數(shù):時(shí)間和壓力。測(cè)試系統(tǒng)可以設(shè)置人工或自動(dòng)操作。這種檢測(cè)方式適合實(shí)驗(yàn)室離線操作和質(zhì)保/質(zhì)檢部門數(shù)據(jù)過程控制。整個(gè)過程僅僅用時(shí)幾秒鐘,測(cè)試結(jié)果非??陀^,而且測(cè)試對(duì)產(chǎn)品和包裝是無(wú)損的。
3、激光法:激光法方法作為美國(guó)藥典<1207>推薦的檢測(cè)方式,在制藥領(lǐng)域應(yīng)用廣泛。美國(guó)Lighthouse--*激光法測(cè)試專家,在美國(guó)食藥監(jiān)FDA的資助下研發(fā)出激光二極光譜原理FMS系列設(shè)備。通過O2、CO2、水分/壓力的參數(shù)變化來(lái)判斷藥品包裝是否存在泄漏。激光法原理是通過近紅外激光產(chǎn)生的光線被分別調(diào)整至與氧分子、水分子、CO2的內(nèi)部吸收頻率相匹配,穿過產(chǎn)品上方頂空部分,根據(jù)被吸收的激光量與頂空中的物質(zhì)濃度比例來(lái)判斷。三套系統(tǒng)皆可安裝在手推車,在不同的灌裝線之間滾動(dòng),進(jìn)行在線工藝檢測(cè)和故障排查活動(dòng),或者也可將該系統(tǒng)安置于實(shí)驗(yàn)室中,用于產(chǎn)品開發(fā)、出廠測(cè)試和QC抽查。激光法檢漏方法在制藥領(lǐng)域的應(yīng)用包括:無(wú)損殘氧分析、無(wú)損真空度測(cè)試、容器密封完整性測(cè)試,產(chǎn)品穩(wěn)定性研究,貨架期研究,滲透性研究等。
以上方法遵循 USP<1207>技術(shù)要求及ASTM F3287-17測(cè)試標(biāo)準(zhǔn),符合 FDA、GMP及CDE關(guān)于CCIT法規(guī)要求。