PCB鍍層檢測 X熒光光譜儀
(一)產(chǎn)品優(yōu)勢
可進行鍍層檢測,zui多鍍層檢測可達6層;
超大可移動樣品平臺700*580*25mm (長*寬*高),樣品移動距離可達300*300*25mm(長*寬*高) ;
激光定位和自動多點測量功能;
可檢測固體、液體、粉末狀態(tài)材料;
運行及維護成本低、無易損易耗品,對使用環(huán)境相對要求低;
可進行未知標樣掃描、無標樣定性,半定量分析;
操作簡單、易學易懂、精準無損、高品質(zhì)、高性能、高穩(wěn)定性,快速出檢測結(jié)果(10-40秒);
可針對客戶個性化要求量身定做輔助分析配置硬件;
軟件*升級;
無損檢測,一次性購買標樣可*使用;
使用安心無憂,售后服務(wù)響應(yīng)時間24H以內(nèi),提供*保姆式服務(wù);
PCB鍍層檢測 X熒光光譜儀
(二)產(chǎn)品特征
1. 高性能高精度X熒光光譜儀(XRF)
2. 計算機 / MCA(多通道分析儀)
2048通道逐次近似計算法ADC(模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器)
3. Multi Ray. 運用基本參數(shù)(FP)軟件,通過簡單的三步進行無標樣標定,使用基礎(chǔ)參數(shù)計算方法,對樣品進行精確的鍍層厚度分析,可對鍍液進行定量分析。
可以增加RoHS檢測功能
4. MTFFP (多層薄膜基本參數(shù)法) 模塊進行鍍層厚度及全元素分析
勵磁模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A1
吸收模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A2
線性模式進行薄鍍層厚度測量
相對(比)模式 無焦點測量 DIN 50987.3.3/ ISO 3497
多鍍層厚度同時測量
單鍍層應(yīng)用 [如:Cu/ABS等]
雙鍍層應(yīng)用 [如:Ag/Pd/Zn, Au/Ni/Cu等]
三鍍層應(yīng)用 [如:Au/Ni-P/Cu/Brass等]
四鍍層應(yīng)用 [如:Cr/Ni/Cu/Zn/SnPb等]
合金鍍層應(yīng) [如:Sn-Ni/ABS Pd-Ni/Cu/ABS等]
5. Smart-Ray. 快速、簡單的定性分析的軟件模塊??赏瑫r分析20種元素。半定量分析頻譜比較、減法運算和配給。
Smart-Ray. 金屬行業(yè)精確定量分析軟件??梢淮涡苑治?5種元素。zui小二乘法計算峰值反卷積。采用盧卡斯-圖思計算方法進行矩陣校正及內(nèi)部元素作用分析。金屬分析精度可達+ /-0.02%,貴金屬(8-24 Karat) 分析精度可達+ /-0.05kt
Smart-Ray. 對鍍液進行分析。采用不同的數(shù)學計算方法對鍍液中的金屬離子進行測定。含全元素、內(nèi)部元素、矩陣校正模塊。
6. Multi-Ray, Smart-Ray. WINDOWS7軟件操作系統(tǒng)
7. 完整的統(tǒng)計函數(shù)均值、 標準差、 低/高讀數(shù),趨勢線,Cp 和 Cpk 因素等
8. 自動移動平臺,用戶使用預(yù)先設(shè)定好的程序進行自動樣品測量。zui大測量點數(shù)量 = 每9999 每個階段文件。每個階段的文件有zui多 25 個不同應(yīng)用程序。特殊工具如"線掃描"和"格柵"。每個階段文件包含*統(tǒng)計軟件包。包括自動對焦功能、方便加載函數(shù)、瞄準樣品和拍攝、激光定位和自動多點測量功能。
產(chǎn)品配置及技術(shù)指標說明
1. X射線管:高穩(wěn)定性X光光管,使用壽命(工作時間>18,000小時)
微焦點x射線管、W (鎢) 靶
鈹窗口, 光斑尺寸75um,油絕緣,氣冷式,輻射安全電子管屏蔽。
50kV,1mA。高壓和電流設(shè)定為應(yīng)用程序提供*性能。
2. 探測器:SDD 探測器
能量分辨率:125eV
3. 濾光片/可選
初級濾光片:Al濾光片,自動切換
7個準直器:客戶可選準直器尺寸或定制特殊尺寸準直器。
(0.1, 0.2, 0.4, 0.5, 1.0,mm 及用于有害物質(zhì)分析的3個Al、3個Mo)
4. 平臺:軟件程序控制步進式電機驅(qū)動X-Y軸移動大樣品平臺。
激光定位、簡易荷載zui大負載量為5公斤
軟件控制程序進行持續(xù)性自動測量
5. 樣品定位:顯示屏上顯示樣品鎖定、簡易荷載、激光定位及拍照功能
6. 分析譜線:
- 2048通道逐次近似計算法ADC(模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換)
- 基點改正(基線本底校正)
- 密度校正
- Multi-Ray軟件包含元素ROI及測量讀數(shù)自動顯示
7.視頻系統(tǒng):高分辨率CCD攝像頭、彩色視頻系統(tǒng)
- 觀察范圍:3mm x 3mm
- 放大倍數(shù):40X
- 照明方法:上照式
- 軟件控制取得高真圖像
8. 檢測厚度(正常指標):
- 原子序數(shù) 22 - 24 : 6 – 1000 微英寸
- 原子序數(shù) 25 - 40 : 4 – 1200 微英寸
- 原子序數(shù) 41 - 51 : 6 – 3000 微英寸
- 原子序數(shù) 52 - 82 : 2 – 500 微英寸
9. 計算機、打印機(贈送)
1)含計算機、顯示器、打印機、鍵盤、鼠標
2)含Windows XP/Win 7軟件
3)Multi-Ray鍍層分析軟件