SOC400T 便攜式FTIR測(cè)量?jī)x采用便攜、手持式設(shè)計(jì), 可以現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量材料表面的定向反射率并計(jì)算定向熱發(fā)射率。
SOC400T FTIR具有一個(gè)2π光學(xué)系統(tǒng)的FTIR,采用前置光學(xué)設(shè)計(jì),操作簡(jiǎn)單,內(nèi)置標(biāo)定??商鎿Q已停產(chǎn)的Gier Dunkle DB-100紅外反射計(jì),波長(zhǎng)范圍為2-25微米,光譜分辨率可設(shè)置,測(cè)量近法向、總的定向反射率;SOC400T FTIR軟件基于Windows XP操作系統(tǒng),可以計(jì)算不同溫度下的定向發(fā)射率。
SOC400T FTIR便攜式FTIR光譜儀榮獲NASA技術(shù)創(chuàng)新證書,可以用作現(xiàn)場(chǎng)和實(shí)驗(yàn)室快速測(cè)量高精度材料光學(xué)參數(shù),適用于平面或彎曲的樣品表面。
SOC400T FTIR測(cè)量紅外光譜總反射率,光譜反射數(shù)據(jù)能為材料表面化學(xué)成份、質(zhì)量控制、工業(yè)衛(wèi)生、定量分析、硬塑料回收、涂層鑒定等提供依據(jù)。
SOC400T FTIR測(cè)量快速、使用簡(jiǎn)便,測(cè)量時(shí)只需對(duì)準(zhǔn)樣品,SOC400T FTIR內(nèi)置軟件可自動(dòng)實(shí)現(xiàn)標(biāo)定、測(cè)量、計(jì)算和保存結(jié)果。
SOC400T FTIR優(yōu)點(diǎn):
♦ 和NASA合作開發(fā),并榮獲NASA技術(shù)創(chuàng)新證書
♦ 可手持操作或三腳架固定操作
♦ 樣品小可至0.5”
應(yīng)用領(lǐng)域:
♦ 材料基本特征測(cè)量
♦ 輻射熱傳輸:
- 冷卻空間- 能量守恒
- 輻射爐處理
♦ 輻射遙感地面真實(shí)提供光譜驗(yàn)證:
- 地質(zhì)應(yīng)用
- 軍事領(lǐng)域
- 環(huán)境領(lǐng)域
SOC400T 便攜式FTIR測(cè)量?jī)x技術(shù)參數(shù)
測(cè)量結(jié)果:近法線光譜反射率
計(jì)算結(jié)果:溫度函數(shù)的總定向發(fā)射率
波長(zhǎng)范圍:2.0~25 µm, 5000~400 cm-1
掃描設(shè)備FTIR:邁克遜干涉儀
掃描時(shí)間:可設(shè)置
光譜分辨率:2, 4, 8, 16, 32 cm-1
光源:1650 K灰體
重量:23 lbs.
尺寸:10” H, 9” W, 14” D
樣品尺寸:直徑≥0.5”
標(biāo)定:內(nèi)置自動(dòng)標(biāo)定
電源:100 V AC or 12 V DC