CMI900(X熒光鍍層測厚儀)
CMI900 是一款性價比*的臺式 X 射線熒光光譜儀,應(yīng)用于涂鍍層厚度測量及材料成分分析。
涂鍍層厚度測量和/或成分分析,元素范圍 Ti - U
可同時進行多達15層元素成分分析
測量方法符合ISO 3497,ASTM B568和DIN 50987
應(yīng)用:
多鍍層金屬厚度測量
合金鑒定及化學分析
電鍍液分析
金成色分析
特點:
標準50瓦微焦X射線管 X熒光/磁感/渦流測厚儀,靈活運用多種分析模型同時分析元素含量和鍍層厚度,實現(xiàn)涂鍍層厚度的精確測試或組成分析
計數(shù)率增加,精度提高
可升級75瓦光管
多準直器
計數(shù)率和光斑尺寸之間的*平衡
鐳射聚焦
改善系統(tǒng)再現(xiàn)性(消除人為干擾)
標準FP軟件包
綜合應(yīng)用模式
簡單校準
開槽式設(shè)計樣品臺,自動尋找適合所設(shè)定焦距的Z軸坐標
提供中文等7種語言界面