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X射線(xiàn)熒光光譜儀樣品制樣時(shí)的拋光方法

來(lái)源:馬爾文帕納科   2018年11月05日 11:06  

X射線(xiàn)熒光光譜儀樣品制樣時(shí)的拋光方法

  固體樣品可用未加工的或經(jīng)加工的大塊材料或原材料制取。另外,也可把熔爐的熔融物直接澆鑄到小模子里。為防止緩慢冷卻時(shí)發(fā)生的成分偏析,用激冷。經(jīng)拋光的原材料,或經(jīng)砂輪磨打的表面,一般是令人滿(mǎn)意的,但對(duì)后者仍需進(jìn)一步拋光,以減少表面粗糙度,并除去加工損傷的和沒(méi)有代表性的表面層。拋光的方法有許多種,包括:

  1.*行帶式磨削,然后用拋光器拋光,其砂紙粒度依次由粗變細(xì);

  2.用車(chē)床、銑床或刨床進(jìn)行加工。對(duì)于薄板和箔,必須仔細(xì)操作,以保證表面不出現(xiàn)翹曲、皺紋和折痕。特別要注意不能照射時(shí)間太長(zhǎng),以免受熱變形。薄板和箔必須襯上一塊剛性支撐物,或把它們粘在一起。

  制備固體樣品時(shí)要注意:

  1.樣品的分析面不能有氣孔,析出物和多孔質(zhì)現(xiàn)象。

  2.防止偏析。造成偏析的因素:合金的組成和密度;鑄模的材料、形狀和厚度;合金熔化溫度、澆鑄溫度和被澆鑄樣品的冷卻速度等。

  3.樣品的冷卻速度。當(dāng)樣品化學(xué)組成相同由于熱過(guò)程不同測(cè)得的X射線(xiàn)強(qiáng)度不同,含C量高的鋼鐵樣品這種現(xiàn)象尤為突出。冷卻速度不一致時(shí),對(duì)輕元素C、Mg、Si、P、S等存在很大影響;而V、Cr、W等往往由于形成碳化物而影響分析。因此,要求制作校準(zhǔn)曲線(xiàn)的樣品和分析樣品的熱處理過(guò)程要保持一致。此外,還和元素在基體金屬中的溶解度有關(guān),元素的低固熔性會(huì)影響金屬的均勻性,快速冷卻能形成細(xì)晶粒的金相結(jié)構(gòu),而大顆粒晶粒的邊界容易發(fā)生偏析和不均勻性。對(duì)于不適合直接分析的金屬樣品,如切削樣、線(xiàn)材和金屬粉末等還可以采用感應(yīng)重熔離心澆鑄法來(lái)制備樣品。原理是將適當(dāng)大小的樣品放入坩堝,在氬氣氣氛中通過(guò)高頻,感應(yīng)加熱重新熔融,在離心力的作用下注入特制的模子里,然后迅速冷卻制得金屬圓塊樣品。離心澆鑄法可以消除樣品的基體效應(yīng),并且可以采用添加法:稀釋法(常見(jiàn)稀釋劑的有純鐵),內(nèi)標(biāo)法等。

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