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總則
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備(以下簡稱“設(shè)備”)基本參數(shù)鑒定方法所用術(shù)語、檢定條件、檢定儀器、檢定周期、檢定負(fù)載及檢定結(jié)果處理等基本要求。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于電工電子產(chǎn)品進(jìn)行環(huán)境試驗(yàn)所用設(shè)備基本參數(shù)的檢定,其他產(chǎn)品進(jìn)行環(huán)境試驗(yàn)所用設(shè)備基本參數(shù)的檢定亦可參照使用。
GB 2421 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 總則
GB 11158 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
3.1.1 環(huán)境條件 environmental condition
設(shè)備所經(jīng)受的周圍物理、化學(xué)和生物的條件。
表征環(huán)境條件的一個或幾個物理、化學(xué)和生物的特性參數(shù)(如溫度、濕度、加速度等)。
能同時模擬兩種或多種環(huán)境參數(shù)試驗(yàn)的設(shè)備。
能依次連續(xù)模擬兩種或多種環(huán)境參數(shù)試驗(yàn)的設(shè)備。
當(dāng)檢定環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備時,按試驗(yàn)方法要求所規(guī)定的環(huán)境參數(shù)值或按需要預(yù)先確定的環(huán)境參數(shù)值±±。
利用試驗(yàn)設(shè)備進(jìn)行環(huán)境試驗(yàn)的樣品。
3.1.7 模擬負(fù)載 simulation load
根據(jù)有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定制造的負(fù)載(一般應(yīng)考慮質(zhì)量、幾何尺寸、迎風(fēng)面積及熱容量等因素)。
試驗(yàn)箱(室)內(nèi)壁所限定空間的實(shí)際容積,用m³表示。
試驗(yàn)箱(室)中能將規(guī)定的試驗(yàn)條件保持在規(guī)定偏差范圍內(nèi)的那部分空間。
代表試驗(yàn)箱(室)工作空間狀態(tài)的點(diǎn),一般取工作空間幾何中心點(diǎn),也可根據(jù)具體情況選擇其他合適的點(diǎn)。
試驗(yàn)箱(室)指示點(diǎn)的自身變化量達(dá)到設(shè)備本身性能指標(biāo)要求時的狀態(tài)。
試驗(yàn)箱(室)在穩(wěn)定狀態(tài)下,工作空間內(nèi)任意一點(diǎn)溫度隨時間的變化量。
計(jì)算方法:試驗(yàn)箱(室)在穩(wěn)定狀態(tài)下,工作空間指示點(diǎn)溫度在30 min內(nèi)(每2min測試一次)的實(shí)測zui高溫度與zui低溫度差值的一半,冠以“±”號,計(jì)算公式如式(1)
△Tf =±(Tfmax - Tfmin)/2 ………………………………(1)
式中:△Tf------溫度波動度,C;
Tfmax------指示點(diǎn)在30 min內(nèi)的實(shí)測zui高溫度,C;
Tfmin-----指示點(diǎn)在30 min內(nèi)的實(shí)測zui低溫度,C;
3.2.6 溫度均勻度 temperature uniformity
試驗(yàn)箱(室)在穩(wěn)定狀態(tài)下,工作空間各2測試點(diǎn)在30 min內(nèi)(每2min測試一次)每次測試中實(shí)測zui高溫度與zui低溫度之差的算術(shù)平均值,計(jì)算公式如式(2)
15
△Tu = 〔∑(Tjmax –Tjmin)〕15……………………………….(2)
J=1
式中:△Tu----溫度均勻度,C;
Tjmax-----各測試點(diǎn)在第j次測試中的實(shí)測zui高溫度,C;
Tjmin-----各測試點(diǎn)在第j次測試中的實(shí)測zui低溫度,C;
試驗(yàn)箱(室)在穩(wěn)定狀態(tài)下,工作空間各測試點(diǎn)在規(guī)定時間內(nèi)實(shí)測zui高溫度(Tjmax)和zui低溫度(Tjmin)與標(biāo)稱溫度(TN)的上下偏差,計(jì)算公式如式(3)、式(4):
上偏差:△Tmax = Tmax – TN ……………………………(3)
下偏差:△Tmin = Tmin – TN…………………………………(4)
試驗(yàn)箱(室)在穩(wěn)定狀態(tài)下,工作空間各測試點(diǎn)在規(guī)定時間內(nèi)的實(shí)測zui高相對濕度(Pmax)和zui低相對濕度(Hmin)與標(biāo)稱相對濕度(HN)的上下偏差,計(jì)算公式如式(5)、式(6):
上偏差:△Hmax = Hmax – HN ……………………………(5)
下偏差:△Hmin = Hmin – HN…………………………………(6)
試驗(yàn)箱(室)在穩(wěn)定狀態(tài)下,工作空間指示點(diǎn)在規(guī)定時間內(nèi)實(shí)測zui高氣壓(Pmax)和zui低氣壓(Pmin)與標(biāo)稱氣壓值(PN)的上下偏差,計(jì)算公式如式(7)、式(8):
上偏差:△Pmax = Pmax – PN ……………………………(7)
下偏差:△Pmin = Pmin – PN…………………………………(8)
試驗(yàn)箱(室)在規(guī)定的時間間隔和規(guī)定的溫度范圍內(nèi),工作空間指示點(diǎn)溫度連續(xù)上升或連續(xù)下降時單位時間的變化量,用℃/min表示。
試驗(yàn)箱(室)在規(guī)定的時間間隔和規(guī)定的壓力范圍內(nèi),工作空間氣壓(一般指取壓口的氣壓)連續(xù)上升或連續(xù)下降時單位時間的變化量,用kPa/min表示
試驗(yàn)箱(室)在規(guī)定的溫度下達(dá)到穩(wěn)定狀態(tài)后,指示點(diǎn)溫度從置入負(fù)載到恢復(fù)到原穩(wěn)定狀態(tài)所需要的時間。
試驗(yàn)箱(室)工作空間的鹽霧在規(guī)定面積上單位時間的自由沉降量,用mL/h.80cm²表示。
試驗(yàn)箱(室)在穩(wěn)定狀態(tài)下,規(guī)定輻射面上實(shí)測輻射強(qiáng)度與標(biāo)稱輻射強(qiáng)度的zui大偏差值占標(biāo)稱輻射強(qiáng)度的百分比。
試驗(yàn)箱(室)在穩(wěn)定狀態(tài)下,工作空間各點(diǎn)在規(guī)定時間內(nèi)實(shí)測輻射強(qiáng)度與標(biāo)稱輻射強(qiáng)度差值占標(biāo)稱輻射強(qiáng)度的百分比。
試驗(yàn)箱(室)在穩(wěn)定狀態(tài)下,工作空間各測試點(diǎn)在3Omin內(nèi)zui高實(shí)測值與zui低實(shí)測值的算術(shù)平均值。
試驗(yàn)箱(室)工作空間環(huán)境參數(shù)中值與標(biāo)稱值的偏差值。
試驗(yàn)箱(室)在穩(wěn)定狀態(tài)小,工作空間環(huán)境參數(shù)中值與試驗(yàn)箱(室)指示儀表指示值之間的差值。
振動臺能滿足規(guī)定技術(shù)指標(biāo)的工作頻率區(qū)間。
振動臺頻率指示值相對于實(shí)際值的偏差。
振動臺定頻振動時頻率維持不變的能力,用規(guī)定時間內(nèi)頻率的變化量表示。
振動臺掃頻振動時,頻率對時間的變化率相對于規(guī)定掃頻速率(每分鐘一個倍頻程)的偏差,用百分?jǐn)?shù)表示。
振動臺振幅指示值相對于實(shí)際值的偏差。
振動臺掃頻振動時,振幅在頻率坐標(biāo)上維持不變的能力,用控制點(diǎn)振幅實(shí)際值相對于設(shè)定值的偏差分貝(DB)數(shù)表示,按式(9)計(jì)算:
式中:N——定振精度,DB
ao——同次掃頻振動中控制點(diǎn)振幅的設(shè)定值;
al——同次掃頻振動中控制點(diǎn)振幅的實(shí)際值。
振動臺處于空載工作狀態(tài),設(shè)定振幅為zui小(電動振動臺輸入激振信號為零)時,臺面中心點(diǎn)噪聲加速度的真有效值。
3.3.8 臺面漏磁 mesa magnetic leakage
電動振動臺系統(tǒng)勵磁裝置處于工作狀態(tài),工作臺面上方規(guī)定高度平面上漏磁場zui大值。
在規(guī)定的頻率范圍內(nèi),振動臺以zui大振幅振動時輻射噪聲的zui大聲級。
3.3.10 安置計(jì)算半徑 mounting calculation radius
安裝在離心式恒加速度試驗(yàn)機(jī)上的試驗(yàn)樣品,其恒加速度值等于規(guī)定值處的回轉(zhuǎn)半徑。
在離心式恒加速度試驗(yàn)機(jī)進(jìn)行規(guī)定加速度試驗(yàn)時,工作臺轉(zhuǎn)速維持不變的能力,用規(guī)定時間內(nèi)轉(zhuǎn)速變化量的百分?jǐn)?shù)表示。
一般用GB 2421中5.3條規(guī)定的試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)大氣條件:
A. 溫度:15~35℃;
B. 相對濕度:45%~75%;
c. 氣壓:86~106 kPa。
注:① 對大型設(shè)備或基于某中原因,設(shè)備不能在上述條件下進(jìn)行檢定時,應(yīng)把實(shí)際氣候條件記錄在檢定報(bào)告之內(nèi)。
② 當(dāng)有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)要求嚴(yán)格控制環(huán)境條件時,應(yīng)在該標(biāo)準(zhǔn)中另行規(guī)定。
電源條件如下:
a 電源電壓及允許誤差:220±22V,80±38V;
b 電源頻率及允許誤差:50±0.5Hz。
4.3 用水條件
4.3.1 冷卻水
冷卻水一般應(yīng)滿足下列條件:
a 進(jìn)水溫度:5~30℃;
b 進(jìn)水壓力:0.1~0.3 MPa。
4.3.2 加熱用水
采用蒸餾水或去離子水,其電阻率不小于500.m
其他條件如下:
a 設(shè)備周圍無強(qiáng)烈沖擊、振動、電磁場及腐蝕性氣體存在;
b 設(shè)備應(yīng)避免陽光直射或其他冷熱源影響。
5 檢定儀器
5.1 檢定系統(tǒng)的測量誤差應(yīng)不大于被測參數(shù)允許偏差的三分之一。
5.2 二次儀表與依次儀表應(yīng)一同校驗(yàn),并具有法定計(jì)量機(jī)構(gòu)有效期內(nèi)的檢定證書。
6 檢定周期
6.1 正常使用的設(shè)備以及設(shè)備上附有的各種儀表,每一年或二年(機(jī)械設(shè)備每一年、氣候設(shè)備每二年)至少逐臺進(jìn)行一次檢定。
6.2 對設(shè)備的重要部位(指對試驗(yàn)條件的變化有直接影響的部位)維修或更換后,應(yīng)立即進(jìn)行檢定。
6.3 設(shè)備在安裝調(diào)試之后或啟封重新使用之前均應(yīng)進(jìn)行檢定。
7 檢定負(fù)載
檢定設(shè)備一般應(yīng)在負(fù)載條件下進(jìn)行,如在空載條件下檢定,應(yīng)在檢驗(yàn)報(bào)告中說明。設(shè)備在負(fù)載條件下檢定時,特定負(fù)載應(yīng)從相應(yīng)的試驗(yàn)樣品中選擇。氣候試驗(yàn)箱的模擬負(fù)載應(yīng)符合GB 11158的有關(guān)規(guī)定,機(jī)械設(shè)備的模擬負(fù)載應(yīng)在相應(yīng)的設(shè)備檢定方法中具體規(guī)定。
注:新設(shè)備檢定時,檢定負(fù)載的具體選擇也可由設(shè)備供需雙方協(xié)商解決。
在確定受檢設(shè)備基本滿足上述三條內(nèi)容條件下,才能對設(shè)備進(jìn)行檢定。
△Ta = Ta – TN ……………………………………………..(10)
式中:△Ta——溫度場調(diào)整值,℃;
Ta——溫度場中值,℃;
TN——溫度場標(biāo)稱值,℃。
如果△Ta>0,說明溫度場偏高,需要將溫度場向低調(diào)整△Ta;如果△Ta<0,說明溫度場偏低,需要將溫度場向高調(diào)整△Ta.
在檢定過程中,如果發(fā)現(xiàn)試驗(yàn)箱(室)工作間環(huán)境參數(shù)的實(shí)測值和設(shè)備指示儀表的指示值之間存在一個固定的差值,而且這個差值大于試驗(yàn)箱(室)的允許偏差時,應(yīng)對設(shè)備的指示儀表進(jìn)行修正,修正值如下方法計(jì)算(以溫度為代表):
△Tc = Tm – Ti ……………………………………(11)
式中:△Tc——設(shè)備指示儀表修正值,℃;
Tm——設(shè)備溫度場中值,℃(每2 min測試一次);
Ti——設(shè)備指示儀表30 min內(nèi)的溫度算術(shù)平均值,℃(每2 mni測試一次)。
其他環(huán)境參數(shù)的修正方法與溫度相同。
設(shè)備進(jìn)行周期檢定時,各種檢定項(xiàng)目均應(yīng)填寫檢定記錄表。檢定記錄表上應(yīng)填寫受檢單位、受檢設(shè)備的型號名稱、出廠編號、生產(chǎn)廠名、設(shè)備編號、檢定儀器的型號名稱、檢定環(huán)境條件、檢定參數(shù)標(biāo)稱值、設(shè)備儀表設(shè)定值及指示值,檢定原始數(shù)據(jù)、檢定結(jié)果、檢定日期和檢定校驗(yàn)人員簽名等內(nèi)容。
如果檢定儀器系統(tǒng)的測量誤差不大于受檢設(shè)備允許偏差的三分之一時,儀器本身誤差可以忽略,檢定結(jié)果中的偏差主要由受檢設(shè)備引起。檢定結(jié)果符合有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,則判為“合格”,否則為“不合格”
檢定結(jié)果判為“合格”時應(yīng)填發(fā)“檢定證書”,檢定證書應(yīng)使用統(tǒng)一紙張,統(tǒng)一編號,并分為“封面”及“內(nèi)容”兩部分。
檢定證書封面主要包括:
a. 證書號;
b. 受檢設(shè)備名稱、型號、生產(chǎn)廠、出廠編號、設(shè)備編號;
C. 明確的結(jié)論;
d. 檢定、校驗(yàn)、批準(zhǔn)人員簽字;
e. 檢定單位公章;
f. 檢定日期、有效日期。
10.2.2 檢定證書內(nèi)容
檢定證書內(nèi)容應(yīng)包括檢定標(biāo)稱值、設(shè)定值、設(shè)備儀表指示值、修正值、各測試點(diǎn)檢定數(shù)據(jù)、檢定結(jié)果和必要的檢定說明書等。
根據(jù)需要,檢定證書內(nèi)容還應(yīng)包括檢定儀表型號、名稱以及檢定標(biāo)準(zhǔn)依據(jù)等。
檢定結(jié)果判為“不合各”時應(yīng)填寫“檢定結(jié)果通知書”。“檢定結(jié)果通知書”和“檢定證書”的封面格式、填寫要求大致相同。
檢定結(jié)果采用“合格”、“準(zhǔn)用”、“停用”三種標(biāo)志,并分別用“合格證”(綠色)、“準(zhǔn)用證”(黃色)、“停用證”(紅色),表示檢定“合格”、“準(zhǔn)用”和“停用”。檢定標(biāo)志應(yīng)貼在受檢設(shè)備顯著的位置上。
標(biāo)志方式 | ||
合格證 (填寫檢定證書) | 準(zhǔn)用書 (填寫檢定證書) | 停用證 (填寫檢定結(jié)果通知書) |
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當(dāng)受檢設(shè)備的個別參數(shù)或個別測試點(diǎn),其檢定結(jié)果不能滿足技術(shù)指標(biāo)的要求時,按以下辦法處理:
允許適當(dāng)縮小受檢設(shè)備的工作空間,縮小后的工作空間應(yīng)滿足全部技術(shù)指標(biāo)要求,但在檢定證書中必須給出限制性說明。
免責(zé)聲明