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詳細(xì)介紹
美SD粒子碰撞噪聲檢測(cè)儀4511A、4511L、4511M4、4511M6
選型說明：
每種型號(hào)的顆粒碰撞噪聲檢測(cè)儀都包括 :控制器,振動(dòng)臺(tái),傳感器, 靈敏度測(cè)試單元,軟件, 示波器, 電纜, 耗材, 及相關(guān)文件.其型號(hào)選擇主要根據(jù)被測(cè)件的重量和外型尺寸而定,我們的標(biāo)準(zhǔn)配置采用的是M230 振動(dòng)臺(tái)可測(cè)負(fù)載重量,全頻率范圍內(nèi)為 400 克 , 換能器臺(tái) 面直徑為22mm~150mm, 換 能 器 因 在 其 中 心 區(qū) 域50%面積處靈敏度,故實(shí)際臺(tái)面選擇時(shí)換能器面積要略大于被測(cè)件扁平面面積。
設(shè)備用途:
用于電子元器件封裝后,對(duì)器件內(nèi)多余粒子碰撞噪聲檢測(cè)試驗(yàn),目的在于檢測(cè)器件封裝腔體內(nèi)存在的自由粒子,是一種非破壞性實(shí)驗(yàn). 用來測(cè)試電器零件從而提高電器零件的可靠性。
適用范圍:
用于檢測(cè)集成電路、晶體管、電容器、航空/航天/軍事領(lǐng)域的繼電器等電子元器件封裝內(nèi)的多余物松散顆粒.
PIND 技術(shù)參數(shù)：
振動(dòng)規(guī)格：
頻率范圍：25 至 250Hz, 正弦曲線
其他振動(dòng)模式：隨機(jī)極限，75 至 400Hz 平坦頻率
自動(dòng)階型頻率，40 至 250Hz
低頻率程序：振幅保護(hù)隨頻率變化
頻率分辨率:1Hz
時(shí)間 :每個(gè)程序 0.1 至 25.5 秒
時(shí)間程序分辨率:0.1 秒
振幅:0.1 至 25.50’G’峰值，4 位數(shù)顯
振幅程序分辨率:0.1’G’
重復(fù)性:0.5’G’峰值，帶反饋控制
D.U.T.載荷: 350g(整個(gè)范圍)
400g 在 60Hz
沖擊規(guī)格：
方法:沖擊臺(tái)反饋控制
自適應(yīng) D.U.T.載荷沖擊
振幅:100 至 2500’G’可編程
程序分辨率:10’G’
重復(fù)性:50’G’內(nèi)
脈沖寬度:<100 微秒在 50%振幅下
典型的是 150-200 微秒在 10%振幅下
沖擊延遲:沖擊脈沖下降沿時(shí)間，從 25 至 250 微秒
D.U.T.載荷:振幅隨負(fù)載輕微下降
能力 500 克在 1000g 振幅下
(可能需要改變程序值來加大載荷)
載荷規(guī)格
振動(dòng)臺(tái)極限:800 克
振動(dòng)極限:400 克 W/傳感器
沖擊極限:500 克（可能需要增加程序值）
電氣規(guī)格
電源:100,120,220,240VAC+/-10% at 50 or 60 Hz 可選
功耗: 300 瓦
額定功率放大:動(dòng)態(tài)加載 100w RMS
聲波檢測(cè)電路:60dB 增益+/- 2 dB
100-200KHz 帶寬
極值:兩點(diǎn)極值開關(guān)，出廠設(shè)定
輸出：
加速度顯示:16 位 LED
頻率顯示:16 位 LED
極值交替指示:一個(gè)沖擊檢測(cè) LED
一個(gè)故障顯示 LED
沖擊值顯示:16 位 LED
示波器:10V,峰值
聲音:4w 內(nèi)部揚(yáng)聲器
最小輸出:10V,峰值
沖擊傳感器規(guī)格:
靈敏度:-77.5 dB +/- 3 dB re 1V per 微巴 at 155 kHz
按 ANSI2.1-1988 測(cè)量
電纜: 整體 3 通道全屏蔽柔性電纜
電磁干擾保護(hù):所有電纜全法拉第屏蔽
傳感器
不同型傳感器大小不一樣
例如:4511M 傳感器參數(shù)為:
100-4S155-4（傳感器）:
壓電晶體數(shù)量:4 個(gè)，每個(gè) 0.75 英寸直徑檢測(cè)范圍
直徑:100mm(4in)
重量:190 克
加速度計(jì)規(guī)格
靈敏度:2.1 pc/G +/- 10% at 100 Hz
幾何位置:裝于沖擊傳感器內(nèi)
STU 傳感器靈敏度:-77.5 dB +/- 3 dB ref 1V per
Microbar at 155 kHz
按 ANSI2.1-1988 測(cè)量
外部 STU 脈沖器輸出:250 微伏+/- 20%
物理特性（幾何外形尺寸）
控制器:13cmX43cmX47cm(5.25X17.0X18.5in)
示波器:13cmX22cmx46cm (5.25X8.5X18in)
M230 振動(dòng)臺(tái):10cm High X 18cm Dia (4 X 7 in)
PIND 檢測(cè)技術(shù)原理
顆 粒 碰 撞 噪 聲 檢 測(cè) （ Particle Impact Noise Detection，PIND）試驗(yàn)是一種多余物檢驗(yàn)的有效手段.其原理是利用振動(dòng)臺(tái)產(chǎn)生一系列的機(jī)械沖
擊和振動(dòng)，通過沖擊使被束縛在產(chǎn)品中的顆粒（即多余物）松動(dòng)，再通過一定頻率的振動(dòng)，使多余物在系統(tǒng)內(nèi)產(chǎn)生位移?；顒?dòng)多余物在產(chǎn)品中發(fā)生位移
的過程，是多余物相對(duì)產(chǎn)品殼體的滑動(dòng)過程和撞擊過程的一個(gè)隨機(jī)組合過程。
在這個(gè)過程中，將產(chǎn)生應(yīng)力彈性波和聲波。兩種波在產(chǎn)品殼體中傳播，并形成混響信號(hào)，這個(gè)混響信號(hào)被定義為位移信號(hào)。采用壓電傳感器拾取到位移信號(hào)后，經(jīng)前置放大器放大后，位移信號(hào)由檢測(cè)裝置的主機(jī)采集、處理并顯示。檢測(cè)人員可以依據(jù)顯示的信號(hào)波形判定出信號(hào)性質(zhì)，以此得出檢測(cè)結(jié)論.
如圖:一個(gè)小的金屬薄片將對(duì)電子元件造成嚴(yán)重的事故
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