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Particle Analysis Systems

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更新時間:2021-06-09 15:45:45瀏覽次數(shù):358

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產(chǎn)品簡介

產(chǎn)品簡介:顆粒的測量與分類,用以監(jiān)測和記錄制造工藝的清潔度。 根據(jù)通用工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)運用全集成式模塊化系統(tǒng)進行數(shù)據(jù)記錄

詳細介紹

簡化日常工業(yè)應(yīng)用中的質(zhì)量控制工作

蔡司顆粒度分析系統(tǒng)為質(zhì)量控制領(lǐng)域的清潔度和油液分析應(yīng)用提供專業(yè)解決方案。您能夠獲得可靠、獨立于用戶且可重復(fù)的結(jié)果。輕擊幾下鼠標(biāo),便可完成輸入項目數(shù)據(jù)、創(chuàng)建報告及歸檔分析結(jié)果等操作。同時,Particle Analyzer 還能與蔡司 AxioVision 軟件系列無縫集成。通過執(zhí)行輔助關(guān)聯(lián)顯微鏡顆粒度分析,獲取更多細節(jié)信息,如表征元素和材料。


定量分析顆粒污染物

清潔度

專用于定量分析顆粒污染物的蔡司系統(tǒng)符合 ISO 16232、VDA 19 和企業(yè)內(nèi)部標(biāo)準(zhǔn)。 SteREO Discovery.V8 可以測量尺寸小至 25 µm 的顆粒。對于尺寸小至5 μm 的顆粒,則使用 Axio Zoom.V16 全自動顯微鏡。

更多資訊
油液分析

油液分析

使用蔡司油液分析系統(tǒng)定量分析顆粒污染物。Axio Imager 2 適用于測量尺寸小至 2 μm 的顆粒。蔡司油液分析系統(tǒng)符合 ISO 4406、ISO 4407、SAE AS 4059 和企業(yè)內(nèi)部標(biāo)準(zhǔn)。

更多資訊
納米級和關(guān)聯(lián)顆粒度分析

納米級和關(guān)聯(lián)顆粒度分析

蔡司顆粒度分析系統(tǒng)能夠分析濾膜上的顆粒,并讓您獲得材料化學(xué)組份的更多信息。使用電子顯微鏡和 SmartPI 軟件全自動分析多達 200,000 個顆粒。Correlative Particle Analyzer 系統(tǒng)是將光學(xué)顯微鏡與電子顯微鏡兩者的分析數(shù)據(jù)相結(jié)合的較好解決方案,符合 ISO 16232 和 VDA19 標(biāo)準(zhǔn)。


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